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Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB

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4.2 Charakterisierung <strong>ultradünner</strong> Ceroxid-Filme<br />

Präparations- Schichtdicke Theo. Exp. Unordnung<br />

bedingungen in Trilagen f c,(111) · D(CeO 2 ) f Nicht-Dipol<br />

c,(111)<br />

(1) 5 0,798 0,49 0,39<br />

(1-Cl) 5 0,798 0,40 0,50<br />

(5) 5 0,798 0,53 0,34<br />

(5) 2 0,904 0,64 0,29<br />

(5-Cl) 5 0,798 0,70 0,12<br />

(5-Cl) 2 0,904 0,76 0,16<br />

(5-Ga) 2 0,904 0,64 0,29<br />

(5-Ag) 2 0,904 0,27 0,70<br />

Tabelle 4.2 Bestimmung der kristallinen Qualität von ultradünnen Ce 2 O 3 -Filmen<br />

(Präparationsbedingungen (1), (1-Cl) (5), (5-Cl), (5-Ga) und (5-<br />

Ag)) anhand der im Film enthaltenen Unordnung U der Ce-Atome<br />

mit Hilfe von quantitativen XSW-Modellierungen und deren Vergleich<br />

mit den um Nicht-Dipol-Effekten bereinigten experimentellen kohärenten<br />

Fraktionen f Nicht-Dipol<br />

c,(111)<br />

. Der Vollständigkeit halber ist die quantitative<br />

Analyse aus dem vorherigen Abschnitt 4.2.2 hier noch einmal mit<br />

aufgenommen.<br />

U<br />

für die Gallium-Passivierung ist identisch mit der nicht passivierten Präparation.<br />

Vergleicht man noch einmal die Unordnung für unterschiedliche Schichtdicken unter<br />

Präparationsbedingungen (5), fällt auf, dass die Unordnung mit einer Erhöhung<br />

der Schichtdicke von 2 auf 5 Trilagen um 5 % zunimmt. Dies liegt leicht außerhalb<br />

des angenommenen Fehlerbereichs und ist möglicherweise auf die Reifung der<br />

Grenzfläche unter Zunahme von Silikat- und Siliziumoxid-Spezies durch die längere<br />

<strong>Wachstum</strong>szeit und dem damit verbundenen längeren Angebot von Sauerstoff bei<br />

hoher Substrattemperatur zurückzuführen. Eine vertiefte Analyse der Grenzfläche<br />

ist Bestandteil des folgenden Abschnitts 4.2.4.<br />

Zusammenfassend lässt sich festhalten, dass das zur Passivierung verwendete <strong>Adsorbat</strong><br />

keinen Einfluss auf den Oxidationszustand <strong>ultradünner</strong> Ceroxid-Filme mit<br />

einer Schichtdicke von wenigen O-Ce-O Trilagen besitzt. Die Ceroxid-Filme weisen<br />

einheitlich den Ce 3+ -Oxidationszustand (Ce 2 O 3 ) auf. Die Untersuchungen zur<br />

kristallinen Qualität zeigen, dass Chlor mit Abstand zur besten Kristallinität der<br />

Ce 2 O 3 -Filme führt, während Silber das <strong>Wachstum</strong> geordneter Filme verhindert und<br />

sogar eine schlechtere Kristallinität induziert als das <strong>Wachstum</strong> von Ce 2 O 3 auf nicht<br />

passiviertem Si(111). Die Adsorption von Gallium vor dem <strong>Wachstum</strong> von Ce 2 O 3<br />

hat hingegen keinen Einfluss auf die kristalline Qualität des deponierten Ceroxid-<br />

Films. Zusammen mit den Ergebnissen aus Abschnitt 4.2.2 wird deutlich, dass die<br />

Passivierung von Si(111) durch Chlor im Gegensatz zur nicht passivierten Präpa-<br />

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