Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB
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4 Strukturelle und chemische Zusammensetzung von <strong>Seltenerdoxid</strong>-Filmen<br />
auf Si(111)<br />
Ce Fluorescence Yield<br />
Ce Fluorescence Yield<br />
Normalized Intensity (arb. units)<br />
2.5<br />
2.0<br />
1.5<br />
1.0<br />
0.5<br />
Reflectivity<br />
(1−Cl)<br />
(1)<br />
f c<br />
= 0.40<br />
Φ c<br />
= 1.00<br />
(a)<br />
Normalized Intensity (arb. units)<br />
2.5<br />
2.0<br />
1.5<br />
f<br />
1.0<br />
c<br />
= 0.49<br />
Φ c<br />
= 1.00<br />
0.5<br />
Reflectivity<br />
(5−Cl)<br />
(5)<br />
f c<br />
= 0.70<br />
Φ c<br />
= 1.10<br />
(b)<br />
f c<br />
= 0.53<br />
Φ c<br />
= 1.11<br />
0<br />
−1 0 1<br />
E−E (eV) Bragg<br />
0<br />
−1 0 1<br />
E−E (eV) Bragg<br />
Abb. 4.12 XSW-Daten (offene Symbole) und theoretische Anpassung nach der dynamischen<br />
Theorie der Röntgenbeugung (durchgezogene Linien) unter<br />
Verwendung der CeL α -Fluoreszenz in (111)-Bragg-Reflexion bei einer<br />
Photonenenergie von 5,9 keV nach dem <strong>Wachstum</strong> von (4.9 ± 0.5) O-Ce-<br />
O Trilagen Ceroxid auf Chlor-passiviertem Cl/Si(111)-(1 × 1) und nicht<br />
passiviertem Si(111)-(7×7) bei einer Substrattemperatur von 500 ℃ und<br />
einem Sauerstoffhintergrunddruck von (a) p O2 = 1 × 10 −7 mbar ((1-Cl),<br />
(1)) und (b) p O2 = 5 × 10 −7 mbar ((5-Cl), (5))<br />
Um den Einfluss der Präparationsbedingungen auf die Kristallinität der ultradünnen<br />
Ce 2 O 3 -Filme zu untersuchen, wurden entsprechende Ceroxid-Filme ((1), (1-Cl),<br />
(5), (5-Cl) und (10-Cl)) mit Hilfe von stehenden Röntgenwellenfeldern (XSW)<br />
untersucht. Dabei wurde die CeL α -Fluoreszenz als inelastisches Sekundärsignal verwendet.<br />
Abb. 4.12 und Abb.4.13 zeigen die zugehörigen Verläufe der inelastischen<br />
Sekundärsignale und der Reflektivitäten in (111)-Bragg-Reflexion zusammen mit<br />
den theoretischen Anpassungen nach der dynamischen Theorie der Röntgenbeugung<br />
bei 5,9 keV Photonenenergie. Wie man Abb. 4.12 (a) entnehmen kann, ergeben sich<br />
für die kohärenten Fraktionen bei Präparationsbedingungen (1) und (1-Cl) Werte<br />
von f CeLα<br />
c,(111)<br />
Φ CeLα<br />
c,(111)<br />
CeLα<br />
(1) = 0,49 und fc,(111) (1-Cl) = 0,40 bei gleicher kohärenter Position von<br />
= 1,00. Da die XSW-Proben eine identische Schichtdicke von (4,9 ± 0.5)<br />
O-Ce-O Trilagen Ceroxid aufweisen, lässt sich anhand der kohärenten Fraktionen<br />
direkt auf die Kristallinität der Filme schließen (siehe auch Abschnitt 2.5.1). Demnach<br />
ist bei Präparationsbedingungen (1) und (1-Cl) die Kristallinität für die nicht<br />
passivierte Probe (1) leicht höher als für die Chlor-passivierte Probe (1-Cl).<br />
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