Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB
Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB
Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB
Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.
YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.
3 Experimenteller Aufbau und Probenpräparation<br />
dulator mit 27 Polen der Periode λ = 7 cm erzeugt. Als Monochromator kommt ein<br />
sphärischer Gitter-Monochromator zum Einsatz. Weitere Details zur Strahlführung<br />
sind von Vescovo et al. [122] und Flege et al. [123] berichet.<br />
Die Daten sämtlicher an U5UA durchgeführten Experimente wurden mit Hilfe der<br />
Open-Source-Anwendung Gxsm von P. Zahl [124] ausgewertet.<br />
3.3.1 Niederenergetisches Elektronenmikroskop an U5UA<br />
Bei dem niederenergetischen Elektronenmikroskop an der Strahlführung U5UA, welches<br />
in Abb. 3.6 gezeigt ist, handelt es sich um ein SPELEEM-Instrument (spectroscopic<br />
photoemission and low-energy electron microscope) der Firma Elmitec. Genauer<br />
handelt es sich um ein LEEM III, welches mit einem bildgebenden Energieanalysator<br />
ausgestattet ist. Dadurch, dass sich das Mikroskop direkt an der Strahlführung<br />
U5UA befindet, kann es auch als Röntgen-Photoemissionselektronenmikroskop<br />
(x-ray photoemission electron microscope, XPEEM) durch die Verwendung der Synchrotronstrahlung<br />
betrieben werden. Die Messmethoden, die das Instrument zur<br />
Verfügung stellt, sind in Abschnitt 2.6 beschrieben.<br />
Das Mikroskop ist mit einer UHV-Präparationskammer ausgestattet, die zum Ausgasen<br />
von Proben und Probenhalter, zum Sputtern mit Hilfe von Argon und zum<br />
Heizen von Proben verwendet werden kann. Daneben können in der Präparationskammer<br />
Proben zwischengelagert werden. Der Basisdruck der Präparationskammer<br />
beträgt etwa 5 × 10 −10 Torr. In der Hauptkammer des Mikroskops werden die ei-<br />
Hauptkammer<br />
Präparationskammer<br />
Sektorfeld<br />
Beleuchtungssäule<br />
Abbildungssäule<br />
Synchrotronstrahlung<br />
Abb. 3.6 Links: Foto des SPELEEM-Instruments von Elmitec an der Strahlführung<br />
U5UA der National Synchrotron Light Source (NSLS) am Brookhaven<br />
National Laboratory (aus [125]). Rechts: LEEM III der Firma Elmitec<br />
vor dem Umbau zum SPELEEM-Instrument (freundlicherweise von Peter<br />
Sutter (Brookhaven National Laboratory, USA) und Jan Ingo Flege<br />
(Universität Bremen) zur Verfügung gestellt.)<br />
52