Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB

2 Grundlagen und Messmethoden
gen und unter Verwendung von LEEM-Aufnahmen mit einem Energieinkrement von
typischerweise 0,2 eV zu den in der rechten Abbildung gezeigten I(V)-Kurven (energieabhängigen
Intensitätsverläufen der Reflektivität) führen. Es ist also möglich, aus
einem Drift-korrigierten Datensatz für jeden Punkt auf der Oberfläche mit einer lateralen
Auflösung von etwa 10 nm I(V)-Kurven zu extrahieren, die Aufschluss über
die chemische Zusammensetzung und die Kristallstruktur der Oberfläche liefern.
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