Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB
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2.6 Niederenergetische Elektronenmikroskopie<br />
E<br />
Reflectivity (arb. units)<br />
1.0<br />
0.8<br />
0.6<br />
0.4<br />
0.2<br />
y<br />
x<br />
0<br />
10 20 30<br />
Electron Energy (eV)<br />
Abb. 2.23 Schematische Darstellung der Extraktion von I(V)-Kurven (rechts) aus<br />
energieabhängigen LEEM-Aufnahmen (links). Die LEEM-Aufnahmen<br />
werden zunächst im interessierenden Energiebereich unter Verwendung<br />
eines festen Energieinkrements ∆E aufgenommen. Anschließend wird eine<br />
eventuell vorhandene Drift der Probe in den Aufnahmen korrigiert.<br />
Daraufhin ist es möglich aus dem 3D-Datensatz I(V)-Kurven mit Pixelauflösung<br />
(∼ 10 nm) zu extrahieren. Dies ist exemplarisch für zwei unterschiedliche<br />
Positionen auf der Proben-Oberfläche veranschaulicht, die<br />
verschiedene Kontrastverläufe aufweisen und dementsprechend zu unterschiedlichen<br />
Verläufen der Reflektivität in Abhängigkeit der kinetischen<br />
Energie der Elektronen (I(V)-Kurven) führen.<br />
zustand von Ceroxid zu bestimmen und detailliert in Abschnitt 5.3 vorgestellt. An<br />
dieser Stelle wird anhand Abb. 2.23 exemplarisch erläutert, wie aus energieabhängigen<br />
LEEM-Aufnahmen I(V)-Kurven extrahiert werden. In der linken Abbildung sind<br />
LEEM-Aufnahmen am Beispiel von Ceroxid auf Ru(0001) gezeigt, die bei kinetischen<br />
Energien der Elektronen von 2 eV, 8 eV, 14 eV, 20 eV, 26 eV und 32 eV aufgenommen<br />
wurden, um die Kontrastvariation und damit die unterschiedliche Reflektivität der<br />
Probenoberfläche in Abhängigkeit der Elektronenenergie zu veranschaulichen. Bei<br />
der Aufnahme von LEEM-Bildern kann es zu einer thermischen Drift der Probe oder<br />
zu mechanischen Störungen (Schwingungen) kommen, die dazu führen, dass sich der<br />
mikroskopierte Oberflächenbereich im Gesichtsfeld ändert. In den exemplarisch gezeigten<br />
LEEM-Aufnahmen sind derartige Störungen durch Einsatz einer geeigneten<br />
Software korrigiert worden, sodass die Reflektivitätsänderung eines charakteristischen<br />
Oberflächenmerkmals mit Pixelauflösung (∼ 10 nm) energieabhängig verfolgt<br />
werden kann. Dies ist anhand der roten und grünen Linien veranschaulicht, die zwei<br />
charakteristische Merkmale auf der Oberfläche in Abhängigkeit der Energie verfol-<br />
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