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Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB

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2.6 Niederenergetische Elektronenmikroskopie<br />

E<br />

Reflectivity (arb. units)<br />

1.0<br />

0.8<br />

0.6<br />

0.4<br />

0.2<br />

y<br />

x<br />

0<br />

10 20 30<br />

Electron Energy (eV)<br />

Abb. 2.23 Schematische Darstellung der Extraktion von I(V)-Kurven (rechts) aus<br />

energieabhängigen LEEM-Aufnahmen (links). Die LEEM-Aufnahmen<br />

werden zunächst im interessierenden Energiebereich unter Verwendung<br />

eines festen Energieinkrements ∆E aufgenommen. Anschließend wird eine<br />

eventuell vorhandene Drift der Probe in den Aufnahmen korrigiert.<br />

Daraufhin ist es möglich aus dem 3D-Datensatz I(V)-Kurven mit Pixelauflösung<br />

(∼ 10 nm) zu extrahieren. Dies ist exemplarisch für zwei unterschiedliche<br />

Positionen auf der Proben-Oberfläche veranschaulicht, die<br />

verschiedene Kontrastverläufe aufweisen und dementsprechend zu unterschiedlichen<br />

Verläufen der Reflektivität in Abhängigkeit der kinetischen<br />

Energie der Elektronen (I(V)-Kurven) führen.<br />

zustand von Ceroxid zu bestimmen und detailliert in Abschnitt 5.3 vorgestellt. An<br />

dieser Stelle wird anhand Abb. 2.23 exemplarisch erläutert, wie aus energieabhängigen<br />

LEEM-Aufnahmen I(V)-Kurven extrahiert werden. In der linken Abbildung sind<br />

LEEM-Aufnahmen am Beispiel von Ceroxid auf Ru(0001) gezeigt, die bei kinetischen<br />

Energien der Elektronen von 2 eV, 8 eV, 14 eV, 20 eV, 26 eV und 32 eV aufgenommen<br />

wurden, um die Kontrastvariation und damit die unterschiedliche Reflektivität der<br />

Probenoberfläche in Abhängigkeit der Elektronenenergie zu veranschaulichen. Bei<br />

der Aufnahme von LEEM-Bildern kann es zu einer thermischen Drift der Probe oder<br />

zu mechanischen Störungen (Schwingungen) kommen, die dazu führen, dass sich der<br />

mikroskopierte Oberflächenbereich im Gesichtsfeld ändert. In den exemplarisch gezeigten<br />

LEEM-Aufnahmen sind derartige Störungen durch Einsatz einer geeigneten<br />

Software korrigiert worden, sodass die Reflektivitätsänderung eines charakteristischen<br />

Oberflächenmerkmals mit Pixelauflösung (∼ 10 nm) energieabhängig verfolgt<br />

werden kann. Dies ist anhand der roten und grünen Linien veranschaulicht, die zwei<br />

charakteristische Merkmale auf der Oberfläche in Abhängigkeit der Energie verfol-<br />

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