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Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB

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2 Grundlagen und Messmethoden<br />

beam seperator image column analyser projector<br />

objektive TL FL IL P1<br />

(a)<br />

aperture<br />

slit<br />

(b)<br />

(c)<br />

sample<br />

surface<br />

BFP IIP FPI EP1 EP2 DP IP screen<br />

Abb. 2.22 Schematischer Strahlengang von der Probenoberfläche bis zum Fluoreszenzschirm<br />

für die Abbildung im Realraum (LEEM und XPEEM) (a), im<br />

Beugungsmodus (LEED) (b) und in der dispersiven Ebene für die Photoelektronenspektroskopie.<br />

Dabei bezeichnet TL die Transferlinse, FL die<br />

Feldlinse, IL die Zwischenlinse, P1 die erste Projektorlinse, BFP die hintere<br />

Brennebene der Objektivlinse, IIP die erste Zwischenbildebene, FPI<br />

die Brennebene der Transferlinse, EP1 und EP2 spezielle Eingangsebenen<br />

des Analysators und IP die Bildebene vor dem Projektor. Das Sektorfeld<br />

ist vereinfachend als Linse dargestellt und für die unterschiedlichen Abbildungsmodi<br />

sind die verwendeten Blenden und Spalte eingezeichnet.<br />

Weitere Details finden sich in [109]. (nach [109])<br />

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