Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB
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2 Grundlagen und Messmethoden<br />
Aus Gleichung (2.39) geht hervor, dass ein Ensemble von Atomen, welches auf äquidistanten<br />
Ebenen mit dem Abstand 1 /|H| = d hkl senkrecht zu H liegt und somit die<br />
Periodizität der beugenden Netzebenenschar aufweist, für die kohärente Fraktion<br />
einen Wert von eins annimmt (f c = 1), da sämtliche Summanden exp(2πiH · r i )<br />
identisch sind. Die kohärente Position Φ c lässt sich dann interpretieren als<br />
Φ c = H · r i mod 1 (2.40)<br />
und gibt den auf d hkl normierten Abstand der Ensembleverteilung relativ zu den<br />
Beugungsebenen parallel zu H an. Die kohärente Position nimmt dabei Werte aus<br />
dem Bereich Φ c ∈ [0,1[ an und für Φ c = 0 stimmt die Position der Ensembleverteilung<br />
mit der der beugenden Netzebenenschar überein, während sie sich für Φ c = 0,5<br />
exakt zwischen den Beugungsebenen befindet. Geht man zu einer ausgedehnten atomaren<br />
Verteilung über, ist f c kleiner als eins und Φ c beschreibt die mittlere Position<br />
der Atome zu den Beugungsebenen parallel zu H.<br />
Um den Verlauf des inelastischen Sekundärsignals für unterschiedliche kohärente<br />
Positionen bei einer kohärenten Fraktion von eins (f c = 1) zu veranschaulichen, zeigt<br />
Abb. 2.16 entsprechende inelastische Sekundärsignalverläufe zusammen mit der nach<br />
5<br />
Φ = 0<br />
R( θ - θ ) B Y ( - ) + 1<br />
N<br />
θ θ<br />
B<br />
4<br />
3<br />
2<br />
1<br />
0<br />
Φ = 0.25<br />
Φ = 0.5<br />
Φ = 0.75<br />
Phase ν<br />
Reflektivität R<br />
–100 0 100 200 300<br />
θ- θ ( μrad)<br />
B<br />
π<br />
π/2<br />
0<br />
ν( θ - θ B<br />
)<br />
Abb. 2.16 Reflektivität R, Phasenverlauf ν und normierte inelastische Sekundärsignale<br />
Y N (der Anschauung halber vertikal verschoben) für die Si(111)-<br />
Bragg-Reflexion bei hν = 3,35 keV, berechnet nach der dynamischen<br />
Theorie für verschiedene Werte der kohärenten Position Φ (aus [93])<br />
28