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Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB

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2.3 Kinematische Näherung der Röntgenbeugung<br />

Oberflächen meist durch Oberflächenkoordinaten ∗ beschrieben, mit Hilfe derer die<br />

Richtungen parallel und senkrecht zur Oberfläche getrennt behandelt werden. Für<br />

die Intensität der an einer idealen Oberfläche gebeugten Röntgenstrahlung erhält<br />

man:<br />

2<br />

I surface (K) ∝ |F (K ⊥ )| 2 ∑<br />

·<br />

e iKn ∑<br />

⊥·a ⊥<br />

δ(K ‖ − G n‖ )<br />

∣ n ⊥ n ‖<br />

∣<br />

∣<br />

∝ |F (K)| 2 1 ∣∣∣ 2<br />

∑<br />

·<br />

∣<br />

·<br />

1 − e iK ⊥·a ⊥ δ(K ‖ − G n‖ )<br />

} {{ }<br />

∣ n ‖<br />

∣<br />

∗<br />

2<br />

.<br />

(2.13)<br />

Daraus folgt, dass die Beugungsreflexe parallel zur Oberfläche diskret bleiben, während<br />

die Beugungsintensität senkrecht zur Oberfläche aufgrund des Terms ∗ in Gleichung<br />

(2.13) eine Intensitätsmodulation<br />

I surface⊥ (K ⊥ ) ∝ sin −2 ( 1 2 · K ⊥ · a ⊥ ) (2.14)<br />

erfährt, die von Robinson [89] auch als crystal truncation rod (CTR) bezeichnet<br />

wurde. Für eine ideale dünne Schicht, die als endlicher Streuer betrachtet werden<br />

kann, ergibt sich für die gebeugte Intensität<br />

2<br />

I layer (K) ∝ |F (K ⊥ )| 2 ∑<br />

·<br />

e iKn ∑<br />

⊥·a ⊥<br />

δ(K ‖ − G n‖ )<br />

∣ n ⊥ n ‖<br />

∣<br />

∝ |F (K)| 2 1 − e iNK ∣ ⊥·a ⊥ ∣∣∣∣ 2<br />

∑<br />

·<br />

·<br />

∣ 1 − e iK ⊥·a ⊥ δ(K ‖ − G n‖ )<br />

∣ n<br />

} {{ } ‖<br />

∣<br />

∗∗<br />

2<br />

,<br />

(2.15)<br />

und somit ergibt sich wegen des Terms ∗∗ in Gleichung (2.15) eine Intensitätsmodulation<br />

senkrecht zur Oberfläche von<br />

I layer⊥ (K ⊥ ) ∝ sin2 ( 1 2 N · K ⊥ · a ⊥ )<br />

sin 2 ( 1 2 · K ⊥ · a ⊥ ) . (2.16)<br />

Dies entspricht genau der beobachteten Intensitätsverteilung der Frauenhoferschen<br />

Beugung am n-fachen Spalt in der Optik.<br />

Abb. 2.11 veranschaulicht die nach der kinematischen Näherung der Röntgenbeugung<br />

zu erwartenden Intensitätsverläufe im reziproken Raum bei der Beugung an<br />

einem dünnen epitaktischen Film auf einem einkristallinen Substrat wie z. B. Silizium.<br />

Es ist dabei angenommen worden, dass sich die vertikalen und lateralen Gitterkonstanten<br />

von Film und Substrat unterscheiden. Die Intensität des epitaktischen<br />

∗ Oberflächenkoordinaten werden auch LEED-Koordinaten genannt, da sie zuerst bei der Methodik<br />

der niederenergetischen Elektronenbeugung (LEED) Anwendung fanden<br />

17

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