Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB
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2.3 Kinematische Näherung der Röntgenbeugung<br />
Oberflächen meist durch Oberflächenkoordinaten ∗ beschrieben, mit Hilfe derer die<br />
Richtungen parallel und senkrecht zur Oberfläche getrennt behandelt werden. Für<br />
die Intensität der an einer idealen Oberfläche gebeugten Röntgenstrahlung erhält<br />
man:<br />
2<br />
I surface (K) ∝ |F (K ⊥ )| 2 ∑<br />
·<br />
e iKn ∑<br />
⊥·a ⊥<br />
δ(K ‖ − G n‖ )<br />
∣ n ⊥ n ‖<br />
∣<br />
∣<br />
∝ |F (K)| 2 1 ∣∣∣ 2<br />
∑<br />
·<br />
∣<br />
·<br />
1 − e iK ⊥·a ⊥ δ(K ‖ − G n‖ )<br />
} {{ }<br />
∣ n ‖<br />
∣<br />
∗<br />
2<br />
.<br />
(2.13)<br />
Daraus folgt, dass die Beugungsreflexe parallel zur Oberfläche diskret bleiben, während<br />
die Beugungsintensität senkrecht zur Oberfläche aufgrund des Terms ∗ in Gleichung<br />
(2.13) eine Intensitätsmodulation<br />
I surface⊥ (K ⊥ ) ∝ sin −2 ( 1 2 · K ⊥ · a ⊥ ) (2.14)<br />
erfährt, die von Robinson [89] auch als crystal truncation rod (CTR) bezeichnet<br />
wurde. Für eine ideale dünne Schicht, die als endlicher Streuer betrachtet werden<br />
kann, ergibt sich für die gebeugte Intensität<br />
2<br />
I layer (K) ∝ |F (K ⊥ )| 2 ∑<br />
·<br />
e iKn ∑<br />
⊥·a ⊥<br />
δ(K ‖ − G n‖ )<br />
∣ n ⊥ n ‖<br />
∣<br />
∝ |F (K)| 2 1 − e iNK ∣ ⊥·a ⊥ ∣∣∣∣ 2<br />
∑<br />
·<br />
·<br />
∣ 1 − e iK ⊥·a ⊥ δ(K ‖ − G n‖ )<br />
∣ n<br />
} {{ } ‖<br />
∣<br />
∗∗<br />
2<br />
,<br />
(2.15)<br />
und somit ergibt sich wegen des Terms ∗∗ in Gleichung (2.15) eine Intensitätsmodulation<br />
senkrecht zur Oberfläche von<br />
I layer⊥ (K ⊥ ) ∝ sin2 ( 1 2 N · K ⊥ · a ⊥ )<br />
sin 2 ( 1 2 · K ⊥ · a ⊥ ) . (2.16)<br />
Dies entspricht genau der beobachteten Intensitätsverteilung der Frauenhoferschen<br />
Beugung am n-fachen Spalt in der Optik.<br />
Abb. 2.11 veranschaulicht die nach der kinematischen Näherung der Röntgenbeugung<br />
zu erwartenden Intensitätsverläufe im reziproken Raum bei der Beugung an<br />
einem dünnen epitaktischen Film auf einem einkristallinen Substrat wie z. B. Silizium.<br />
Es ist dabei angenommen worden, dass sich die vertikalen und lateralen Gitterkonstanten<br />
von Film und Substrat unterscheiden. Die Intensität des epitaktischen<br />
∗ Oberflächenkoordinaten werden auch LEED-Koordinaten genannt, da sie zuerst bei der Methodik<br />
der niederenergetischen Elektronenbeugung (LEED) Anwendung fanden<br />
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