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Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB

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4 Strukturelle und chemische Zusammensetzung von <strong>Seltenerdoxid</strong>-Filmen<br />

auf Si(111)<br />

können. Dies bedeutet, dass die Chlor-Passivierung Cl/Si(111)-(1 × 1) die gleichen<br />

Auswirkungen wie beim Ce 2 O 3 -<strong>Wachstum</strong> bewirkt (siehe Abschnitt 4.2.5.1), obwohl<br />

das Chlor beim <strong>Wachstum</strong> von La 2 O 3 vorwiegend als surfactant fungiert. Die absolute<br />

kristalline Qualität der La 2 O 3 -Filme reicht jedoch an die für Ce 2 O 3 erzielten<br />

Ergebnisse nicht heran.<br />

4.4 <strong>Wachstum</strong> von <strong>Seltenerdoxid</strong>-Multilagen-Filmen<br />

In diesem Abschnitt soll das <strong>Wachstum</strong> von <strong>Seltenerdoxid</strong>-Multilagen-Filmen am<br />

Beispiel vom Ceroxid-<strong>Wachstum</strong> auf Lanthanoxid-Filmen untersucht werden, welche<br />

auf Chlor-passiviertem Cl/Si(111)-(1 × 1) unter Präparationsbedingungen (5-Cl)<br />

deponiert wurden.<br />

4.4.1 Spektroskopische Untersuchungen<br />

Ceroxid mit einer Schichtdicke von 6 Å wurde hierzu bei einer Substrattemperatur<br />

von 500 ℃ und einem Sauerstoffhintergrunddruck von p O2 = 5 × 10 −7 mbar auf<br />

1,8 nm La 2 O 3 abgeschieden. Abb. 4.36 zeigt das zugehörige Ce3d-XPS-Spektrum aufgenommen<br />

bei einer Photonenenergie von 3,35 keV. Das Spektrum kann mit Hilfe<br />

der zum Ce 3+ -Oxidationszustand gehörigen Peaks (v 0 ,v’,u 0 , u’) und den entspre-<br />

Normalized Intensity (arb. units)<br />

1.0<br />

0.8<br />

0.6<br />

0.4<br />

0.2<br />

Ce3d<br />

fit<br />

v‘, u‘<br />

v 0<br />

, u 0<br />

EL‘<br />

EL 0<br />

40<br />

30 20 10<br />

Relative Binding Energy (eV)<br />

0<br />

−10<br />

Abb. 4.36 Ce3d-XPS-Spektrum aufgenommen bei einer Photonenenergie von<br />

3,35 keV von einem Ceroxid-Film mit einer Schichtdicke von 6 Å gewachsen<br />

bei 500 ℃ Substrattemperatur und einem Sauerstoffhintergrunddruck<br />

von p O2 = 5×10 −7 mbar auf 1,8 nm Lanthanoxid, welches auf Cl/Si(111)-<br />

(1 × 1) bei Präparationsbedingungen (5-Cl) deponiert wurde<br />

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