Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB

4 Strukturelle und chemische Zusammensetzung von Seltenerdoxid-Filmen
auf Si(111)
before
ceria growth
silver islands
Ag/Si(111)-( 3x 3)R30°
silicon substrate
after ceria growth
silver islands
silicat e/SiO x
Ce O 2 3
silicon substrate
Abb. 4.25 Schematische Darstellung der Silber-Passivierung vor und nach dem
Wachstum von Ce 2 O 3 . Vor dem Ce 2 O 3 -Wachstum: Ag/Si(111)-( √ 3 ×
√
3)R30° HCT-Struktur zusammen mit 3D-Silber-Inseln, die den größten
Teil der Silber-Bedeckung ausmachen. Nach dem Ce 2 O 3 -Wachstum:
Die Silber-Atome in der Ag/Si(111)-( √ 3× √ 3)R30° Struktur sind zu den
3D-Silber-Inseln diffundiert, die somit an Größe gewinnen. Aufgrund der
fehlenden Passivierung kommt es an der Grenzfläche zwischen Ce 2 O 3 und
Si(111) zu vermehrten Silikat- und Siliziumoxid-Wachstum.
und nach dem Wachstum von Ce 2 O 3 ergibt sich das folgende Bild, welches schematisch
in Abb. 4.25 skizziert ist. Die Ag/Si(111)-( √ 3 × √ 3)R30° HCT-Struktur
ist unter dem Wachstum von Ceroxid instabil und lagert sich an den schon vorhandenen
3D-Silber-Inseln an, die infolgedessen ihr Volumen vergrößern. Dies geht
nicht nur aus dem starken Intensitätseinbruch des Ag3d-XPS-Signals nach dem
Wachstum, sondern auch aus der verschwindenden kohärenten Fraktion anhand des
Ag3d-Photoelektronen-Signals hervor. Aufgrund der begrenzten Ausdringtiefe der
Photoelektronen ist der zum Ag3d-XPS-Signal beitragende Silber-Stoffmengenanteil
durch das Inselwachstum nach dem Ce 2 O 3 -Wachstum sehr viel geringer als vor dem
Wachstum, und im inelastischen Photoelektronen-Sekundärsignalverlauf der XSW-
Messung ist im Wesentlichen der äußere Bereich der Inseln zugänglich, der hauptsächlich
einen inkohärenten Anteil liefert. Da der XSW-Messung mit Hilfe der AgL α -
Fluoreszenz stets der gesamte Silber-Stoffmengenanteil zugänglich ist, ist nach dem
vorgestellten Modell (Abb. 4.25) verständlich, weshalb sich die kohärente Frakti-
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