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Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid ... - E-LIB

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4.2 Charakterisierung <strong>ultradünner</strong> Ceroxid-Filme<br />

Ag Photoelectron Yield<br />

Ag Fluorescence Yield<br />

Normalized Intensity (arb. units)<br />

2.0<br />

1.5<br />

1.0<br />

0.5<br />

Reflectivity<br />

Before growth<br />

After growth<br />

f c<br />

= 0.93<br />

Φ c<br />

= 1.09<br />

(a)<br />

2.0<br />

Normalized Intensity (arb. units)<br />

1.5<br />

1.0<br />

f c<br />

= 0.12<br />

Φ c<br />

= 1.05<br />

0.5<br />

Reflectivity<br />

Before growth<br />

After growth<br />

f c<br />

= 0.17<br />

Φ c<br />

= 0.78<br />

(b)<br />

f c<br />

= 0.22<br />

Φ c<br />

= 0.77<br />

0<br />

0<br />

−0.5 0 0.5 1−1 −0.5 0 0.5 1<br />

E−E (eV)<br />

E−E (eV)<br />

Bragg Bragg<br />

Abb. 4.24 XSW-Daten (offene Symbole) und theoretische Anpassung nach der dynamischen<br />

Theorie der Röntgenbeugung (durchgezogene Linien) unter<br />

Verwendung von Ag3d-Photoelektronen und der AgL α -Fluoreszenz in<br />

(111)-Bragg-Reflexion bei Photonenenergien von (a) 2,6 keV und (b)<br />

4,0 keV für Ag/Si(111)-( √ 3 × √ 3)R30° und nach dem <strong>Wachstum</strong> von 6 Å<br />

Ce 2 O 3 bei einer Substrattemperatur von 500 ℃ und einem Sauerstoffhintergrunddruck<br />

von p O2 = 5 × 10 −7 mbar (5-Ag). Die inelastischen<br />

Sekundärsignalverläufe in (b) sind der Übersichtlichkeit halber um 0,1<br />

verschoben.<br />

die den größten Stoffmengenanteil des Silbers ausmachen und zugleich eine sehr viel<br />

geringere Oberfläche aufweisen als die Ag/Si(111)-( √ 3× √ 3)R30°. Eine schematische<br />

Darstellung der Silber-bedeckten Oberfläche ist in Abb. 4.25 gezeigt. Die Morphologie<br />

der Oberfläche führt dazu, dass die 3D-Silber-Inseln einen großen inkohärenten<br />

Anteil zum inelastischen Fluoreszenz-Signal beitragen und somit die kohärente<br />

Fraktion und die kohärente Position sehr stark beeinflussen, während der Verlauf<br />

des Photoelektronen-Signals aufgrund der geringeren Ausdringtiefe von Photoelektronen<br />

nicht nennenswert verändert wird.<br />

Nach dem <strong>Wachstum</strong> von 6 Å Ce 2 O 3 (5-Ag) erhält man für die kohärente Fraktion<br />

und die kohärente Position unter Verwendung von Ag3d-Photoelektronen die Werte<br />

f Ag3d<br />

c,(111)<br />

(5-Ag) = 0,12 und ΦAg3d<br />

c,(111) (5-Ag) = 1,05 und unter Verwendung der AgL α-<br />

Fluoreszenz die Werte f AgLα<br />

c,(111)<br />

(5-Ag) = 0,22 und ΦAgLα<br />

c,(111)<br />

(5-Ag) = 0,77. Während sich<br />

der Verlauf des Photoelektronen-Signals durch das <strong>Wachstum</strong> des Ceroxid-Films<br />

sehr stark ändert, bleibt der Fluoreszenzverlauf annähernd erhalten (Abb. 4.24).<br />

Zusammen mit den spektroskopischen Ergebnissen des Ag3d-XPS-Spektrums vor<br />

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