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5.4 Untersuchungen zur Schichtstruk<strong>tu</strong>r <strong>de</strong>r aufgedampften Aluminiumschicht_____________Seite 81<br />

Abb. 5-11: TEM-Aufnahmen einer von BoPP-Folie abgelösten Aluminiumschicht;<br />

Ubeschl.: 120kV, Kameralänge bei <strong>de</strong>n Beugungsbil<strong>de</strong>rn: 60 cm<br />

oben: Hellfeld<br />

links unten: Beugungsbild <strong>de</strong>s gesamten Hellfeldbil<strong>de</strong>s<br />

rechts unten: Beugungsbild eines einzelnen Kristalls (Zonenachse [1,1,0]) aus<br />

<strong>de</strong>m Verbund<br />

In <strong>de</strong>r Hellfeldaufnahme sind <strong>de</strong>utlich eine Vielzahl von hellen und dunklen kantigen<br />

Struk<strong>tu</strong>ren zu erkennen. Verkippt man die Probe, dunkeln zunächst helle Bereich ab,<br />

während an<strong>de</strong>re dafür neu erscheinen. Fährt man so einen großen Winkelbereich ab,<br />

zeigt sich, dass die Schichten vollkommen geschlossen sind und die<br />

Helligkeitsunterschie<strong>de</strong> nur auf die unterschiedliche Orientierung <strong>de</strong>r einzelnen<br />

Struk<strong>tu</strong>ren und die dadurch verursachte unterschiedlich starke Beugung <strong>de</strong>s<br />

Elektronenstrahls zurückzuführen sind. Die Größe <strong>de</strong>r Struk<strong>tu</strong>ren streut mit Werten<br />

zwischen 12 nm und 100 nm recht stark. Im Mittel liegt sie jedoch bei etwa<br />

47,<br />

7 ± 8,<br />

6 nm und stimmt damit recht gut mit <strong>de</strong>m im AFM gefun<strong>de</strong>nen Wert für<br />

solche Schicht (S6) überein.<br />

Mit Hilfe <strong>de</strong>r Feldselektorblen<strong>de</strong> <strong>de</strong>s TEM wur<strong>de</strong> eine einzelne Struk<strong>tu</strong>r herausgegriffen<br />

und durchstrahlt. Das sich ergeben<strong>de</strong> Beugungsbild ist in Abb. 5-11 unten rechts

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