Ionen in einer linearen Paulfalle - ArchiMeD
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7.6. Fehlerquellen 81<br />
nochmals um e<strong>in</strong>e Grenordnung s<strong>in</strong>ken drfte. Die ultimative Lsung wre natrlich, die gesamte<br />
Apparatur <strong>in</strong> e<strong>in</strong>em Kryostaten unterzubr<strong>in</strong>gen und bei Temperaturen um 4K zu betreiben. Dadurch<br />
liee sich e<strong>in</strong> auerordentlich gutes Vakuum erreichen. Allerd<strong>in</strong>gs wren fr die Verwendung<br />
e<strong>in</strong>es Kryostaten e<strong>in</strong>e Reihe von apparativen Umbauten notwendig. Der Aufwand ist nur fr e<strong>in</strong>e<br />
Lebensdauermessung sicherlich zu gro, besonders solange ke<strong>in</strong>e wesentlich besseren Theoriewerte<br />
vorliegen. E<strong>in</strong>e weitere Fehlerquelle, wenn man mit lasergekhlten <strong>Ionen</strong> arbeitet, ist durch<br />
Heizeffekte gegeben. Das Problem besteht dar<strong>in</strong>, da die <strong>Ionen</strong> im metastabilen Zustand vollstndig<br />
von den Khllasern entkoppelt s<strong>in</strong>d, so da sie sich <strong>in</strong> der Zeit, whrend sie im metastabilen<br />
Zustand s<strong>in</strong>d, aufheizen knnen. Wrde sich das Ion aufheizen, so wrde der gemessene Wert fr die<br />
Lebensdauer durch die zustzliche Khlzeit verlngert. In der <strong>Paulfalle</strong> ist z.B. der Mechanismus<br />
des Hochfrequenzheizens zu bercksichtigen, der bei e<strong>in</strong>zelnen <strong>Ionen</strong> oder Kristallen allerd<strong>in</strong>gs<br />
ke<strong>in</strong>e Rolle spielt. Es kann darber h<strong>in</strong>aus auch andere Heizeffekte geben. Bei Experimenten zur<br />
Prparation von Quantengattern wurden Heizraten untersucht und starkes Aufheizen beobachtet<br />
[168, 186]. Dabei handelt es sich allerd<strong>in</strong>gs um <strong>Ionen</strong> im Grundzustand, so da die Situation<br />
nicht ohne Weiteres bertragbar ist. Man mu <strong>in</strong> jedem Fall berprfen, wie lange die <strong>Ionen</strong> auch<br />
ohne Khllaser kalt bleiben. Dazu geht man experimentell so vor: Man blockt die Khllaser fr<br />
e<strong>in</strong>e gewisse Zeit und beobachtet den Anstieg des Fluoreszenzsignals nach dem Entblocken. Ist<br />
(praktisch) ke<strong>in</strong> Anstieg beobachtbar, sondern steigt die detektierte Fluoreszenz direkt auf das<br />
vorherige Niveau an, hat sich das Ion <strong>in</strong>nerhalb dieser Zeit nicht aufgeheizt. Da die Khlzeiten<br />
durchaus im Millisekundenbereich liegen knnen, wrde man e<strong>in</strong>en exponentiellen Anstieg beobachten.<br />
Experimentell wurde festgestellt, da man die Laser fr e<strong>in</strong>ige Sekunden blocken kann,<br />
ohne e<strong>in</strong> Aufheizen zu beobachten. Da die <strong>Ionen</strong> whrend e<strong>in</strong>er Messung maximal e<strong>in</strong>ige Sekunden<br />
ungekhlt wren, kann man Heizeffekte als Fehlerquelle hier also ausschlieen. Schlielich soll<br />
noch der E<strong>in</strong>flu des Speicherfeldes nher betrachtet werden. Durch e<strong>in</strong> Beimischen des kurzlebigen<br />
4P-Niveaus ber den Starkeffekt kann sich die Lebensdauer verkrzen. Es gengt hierbei schon<br />
e<strong>in</strong>e kle<strong>in</strong>e Beimischung von ca. 3 × 10 −6 , da die Lebensdauern der beiden gemischten Niveaus<br />
sich um mehrere Grenordnungen unterscheiden. E<strong>in</strong>e simple Abschtzung gibt Auskunft darber,<br />
ob das Speicherfeld am Ort des Ions stark genug ist, um diese Kopplung zu verursachen. Die<br />
Wellenfunktion setzt sich zusammen als<br />
Ψ m = αΨ P + βΨ D (7.9)<br />
Die resultierende Zerfallsrate fr den gemischten Zustand kann dann aus den Zerfallsraten der<br />
e<strong>in</strong>zelnen Zustnde gem<br />
〈Ψ m |Γ|Ψ m 〉 = α 2 Γ P + β 2 Γ D (7.10)<br />
berechnet werden. Dabei ist α die Strke der Beimischung, die sich aus dem bergangs-Matrixelement<br />
α = 〈Ψ m|Γ|Ψ m 〉<br />
E P − E D<br />
E (7.11)<br />
ergibt. Das Matrixelement wird abgeschtzt, <strong>in</strong>dem fr r der Bohrsche Radius und die maximale<br />
Feldstrke e<strong>in</strong>gesetzt wird, die die <strong>Ionen</strong> erfahren. Dazu geht man von der maximalen Bewegungsamplitude<br />
e<strong>in</strong>es gekhlten Ions aus. Man erhlt e<strong>in</strong>e Rate von Γ = 10 −8 ms −1 . Der E<strong>in</strong>flu<br />
des Fhrungsfelds kann bei der momentanen Genauigkeit also auch vernachlssigt werden. Fr<br />
Ca + ergibt sich e<strong>in</strong>e <strong>in</strong>duzierte bergangswahrsche<strong>in</strong>lichkeit von 9 ∗ 10 −14 [19] bei den blichen<br />
Restfeldstrken, die z.B. bei unzureichender Kompensation der Mikrobewegung brigbleiben. E<strong>in</strong>e<br />
re<strong>in</strong> technische Fehlerquelle ist die Zeitmessung. Das Tim<strong>in</strong>g, das von der Kameraelektronik<br />
geliefert wird, wurde mit e<strong>in</strong>em Testaufbau berprft. Dabei wurde e<strong>in</strong>e LED mit e<strong>in</strong>em przisen<br />
Frequenzgenerator frequenzmoduliert betrieben. Das frequenzmodulierte Licht wurde mit