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46 Kapitel 3. Charakterisierung holografischer Materialien<br />

In Abbildung 3.9 ist ein Transmissionsspektrum eines holografischen Substrates am Beispiel<br />

von Ultimate-08 dargestellt. Das periodische Transmissionsverhalten ist hier gut zu<br />

erkennen.<br />

90<br />

λ 1<br />

λ 2<br />

Transmission (%)<br />

85<br />

80<br />

75<br />

500 550 600 650 700<br />

Wellenlänge (nm)<br />

Abb. 3.9: Transmissionsspektrum eines unbelichteten holografischen Substrates. Aus dem Abstand<br />

zweier beliebiger benachbarter Maxima (λ 1 , λ 2 ) kann die Schichtdicke bestimmt werden.<br />

Aus einem solchen Weißlicht-Transmissionsspektrum kann nach Formel 3.3 die Dicke einer<br />

dielektrischen Schicht bestimmt werden[40]:<br />

d = 1 λ 1 λ 2<br />

·<br />

(3.3)<br />

2n 0 λ 2 − λ 1<br />

Dabei sind λ 1 und λ 2 die Wellenlängen zweier aufeinander folgender Maxima (bzw. Minima)<br />

im Transmissionsspektrum. Während der Messung wurden zur Erhöhung der Genauigkeit<br />

die Abstände von bis zu 10 aufeinander folgenden Maxima gemessen und gemittelt.<br />

Auf diese Weise wurde von allen panchromatischen Materialien die Schichtdicke gemessen;<br />

die Ergebnisse sind in Tabelle 3.4 zusammengefasst und wurden im folgenden Kapitel für<br />

die Fits an die Kogelnik Theorie verwendet.<br />

3.2.4 Brechungsindexmodulation<br />

Die in Abschnitt 3.1 aufgenommenen Hologramme zur Bestimmung der optimalen Belichtungsdosis<br />

sind sinusförmig modulierte Volumengitter, die gut durch die Kogelnik-Theorie<br />

beschrieben werden können. Die einer Messung nicht direkt zugängliche Brechungsindexmodulation<br />

im Material kann daher durch einen Fit der Theorie an die gemessenen Transmissionsspektren<br />

berechnet werden.

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