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46 Kapitel 3. Charakterisierung holografischer Materialien<br />
In Abbildung 3.9 ist ein Transmissionsspektrum eines holografischen Substrates am Beispiel<br />
von Ultimate-08 dargestellt. Das periodische Transmissionsverhalten ist hier gut zu<br />
erkennen.<br />
90<br />
λ 1<br />
λ 2<br />
Transmission (%)<br />
85<br />
80<br />
75<br />
500 550 600 650 700<br />
Wellenlänge (nm)<br />
Abb. 3.9: Transmissionsspektrum eines unbelichteten holografischen Substrates. Aus dem Abstand<br />
zweier beliebiger benachbarter Maxima (λ 1 , λ 2 ) kann die Schichtdicke bestimmt werden.<br />
Aus einem solchen Weißlicht-Transmissionsspektrum kann nach Formel 3.3 die Dicke einer<br />
dielektrischen Schicht bestimmt werden[40]:<br />
d = 1 λ 1 λ 2<br />
·<br />
(3.3)<br />
2n 0 λ 2 − λ 1<br />
Dabei sind λ 1 und λ 2 die Wellenlängen zweier aufeinander folgender Maxima (bzw. Minima)<br />
im Transmissionsspektrum. Während der Messung wurden zur Erhöhung der Genauigkeit<br />
die Abstände von bis zu 10 aufeinander folgenden Maxima gemessen und gemittelt.<br />
Auf diese Weise wurde von allen panchromatischen Materialien die Schichtdicke gemessen;<br />
die Ergebnisse sind in Tabelle 3.4 zusammengefasst und wurden im folgenden Kapitel für<br />
die Fits an die Kogelnik Theorie verwendet.<br />
3.2.4 Brechungsindexmodulation<br />
Die in Abschnitt 3.1 aufgenommenen Hologramme zur Bestimmung der optimalen Belichtungsdosis<br />
sind sinusförmig modulierte Volumengitter, die gut durch die Kogelnik-Theorie<br />
beschrieben werden können. Die einer Messung nicht direkt zugängliche Brechungsindexmodulation<br />
im Material kann daher durch einen Fit der Theorie an die gemessenen Transmissionsspektren<br />
berechnet werden.