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36 Kapitel 3. Charakterisierung holografischer Materialien
Aufbau so konzipiert, dass die eingeschriebenen HOE mit einem fasergekoppelten Spektrometer
auch automatisiert vermessen werden können. Abbildung 3.1 zeigt den schematischen
Aufbau des Verfahrens.
M4
M5
SF2
M1
Shutter
Aufnahme-Laser
BS
A2
C1
SF1
Substrat in
XY-Schlitten
A1
C2
M2
M3
Faser zum
Spektrometer
Faser zur
Lichtquelle
Abb. 3.1: Aufnahme und Vermessung der Hologramme. Das Substrat kann nach der Aufnahme
in die Spektrometerposition gefahren werden, um eine automatisierte Vermessung durchzuführen.
Hauptbestandteil des Aufbaus ist eine XY-Verschiebeeinheit, welche computergesteuerte
Verfahrwege des holografischen Substrats von bis zu 400mm x 200mm erlaubt. Über
Kippspiegel ist die Selektion verschiedener Aufnahmelaser möglich, um Untersuchungen
mit mehreren Wellenlängen zu ermöglichen. Zur Verfügung stehen frequenzverdoppelte
YAG-Laser (532nm, 473nm), ein stabilisiertes Laserdiodenmodul (658nm) und HeNe-Laser
(633nm). Außerdem ist die Einkoppelung eines Argon-Lasers (457nm, 488nm, 514nm) in
den Aufbau möglich.
Nach Passieren des computergesteuerten Shutters wird der Strahl im Strahlteiler BS in
Objekt- und Referenzstrahl geteilt, in den beiden Raumfiltern SF1 1 und SF2 gefiltert, kollimiert
und trifft von verschiedenen Seiten auf das Substrat. Die Positionierung der Spiegel
M3 und M5 erlaubt die Einstellung beliebiger Objekt- und Referenzwinkel. Um das hohe
Auflösungsvermögen der Materialien zu testen und gleichzeitig eine einfache Auswertung
zu ermöglichen, wurden zunächst alle Hologramme in einer 45 ◦ /180 ◦ -Konfiguration aufge-
1 engl.: spatial filter