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Mikroskop (MIK) Die Abbildung im Mikroskop erfolgt in zwei Stufen ...

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FACHHOCHSCHULE MÜNCHEN<br />

Fachbereich 06 PH<br />

PHYSIKALISCHES PRAKTIKUM<br />

<strong>Mikroskop</strong> (<strong>MIK</strong>)<br />

Stichworte:<br />

Brechungs- und Reflexionsgesetz, <strong>Abbildung</strong>sgesetze, <strong>Abbildung</strong>sfehler, optische Geräte (Lupe), Vergrößerung der Lupe,<br />

Strahlenbegrenzung (Pupillen und Blenden), Beugung am Spalt und Gitter, Auflösungsvermögen.<br />

Ziel des Versuchs:<br />

Studium der optischen Eigenschaften des <strong>Mikroskop</strong>s, Messungen mit dem <strong>Mikroskop</strong>.<br />

a) Best<strong>im</strong>mung der Gesamtvergrößerung e<strong>in</strong>es <strong>Mikroskop</strong>s durch Vergleich von Bild- und Objektgröße.<br />

Messung des <strong>Abbildung</strong>smaßstabes für das Objektiv und Best<strong>im</strong>mung der Okularvergrößerung.<br />

b) Best<strong>im</strong>mung der Auflösungsgrenze durch Messung der numerischen Apertur des Objektivs.<br />

c) Best<strong>im</strong>mung der Brechzahl von Probenplatten aus Glas und Plexiglas.<br />

LITERATUR:<br />

Her<strong>in</strong>g-Mart<strong>in</strong>-Stohrer: Physik für Ingenieure; VDI<br />

Dobr<strong>in</strong>ski, Krakau, Vogel: Physik für Ingenieure ,Teubner<br />

Bergmann, Schäfer: Exper<strong>im</strong>entalphysik, Band III Optik; Walter de Gruyter<br />

Hecht: Optik; Addison-Wesley<br />

1. Grundlagen<br />

<strong>Die</strong> <strong>Abbildung</strong> <strong>im</strong> <strong>Mikroskop</strong> <strong>erfolgt</strong> <strong>in</strong> <strong>zwei</strong> <strong>Stufen</strong> (siehe Skizze).<br />

- Das Objektiv erzeugt <strong>in</strong> der Zwischenbildebene e<strong>in</strong> reelles, vergrößertes Bild y z ' des Objektes y.<br />

- Das Okular entwirft e<strong>in</strong> virtuelles, vergrößertes Bild y' <strong>im</strong> Unendlichen.<br />

Der Beobachter betrachtet das Zwischenbild mit dem als Lupe wirkenden Okular.<br />

Zur Verbesserung der <strong>Abbildung</strong>seigenschaften bestehen Objektiv und Okular aus mehreren L<strong>in</strong>sen..<br />

y<br />

<br />

as<br />

a<br />

a'<br />

_<br />

f Ok.<br />

f ' Obj.<br />

t<br />

Objekt<br />

y<br />

_<br />

FObj.<br />

F' Obj.<br />

reelles<br />

Zwischenbild<br />

_<br />

y'<br />

F<br />

z<br />

Ok.<br />

' (-)<br />

F' Ok.<br />

Objektiv<br />

Okular<br />

Auge<br />

virtuelles Bild<br />

y'<br />

Abb.1: <strong>Abbildung</strong> und Vergrößerung bei e<strong>in</strong>em <strong>Mikroskop</strong><br />

<strong>Mikroskop</strong> SS01


<strong>MIK</strong> Seite 2<br />

Das <strong>Mikroskop</strong> wirkt vergrößernd, da der Sehw<strong>in</strong>kel mit Instrument σ' größer ist als der W<strong>in</strong>kel σ,<br />

unter dem man das Objekt ohne <strong>Mikroskop</strong> <strong>in</strong> der Entfernung a s (= Bezugssehweite) sehen würde.<br />

<strong>Die</strong> Vergrößerung M e<strong>in</strong>es optischen Instruments ist allgeme<strong>in</strong> def<strong>in</strong>iert als das Verhältnis:<br />

Sehw<strong>in</strong>kel mit Instrument σ '<br />

Γ M = = ≅<br />

Sehw<strong>in</strong>kel ohne Instrument σ<br />

tan σ '<br />

tan σ<br />

(1<br />

Nach Abb. 1 gilt:<br />

y'<br />

z<br />

tan σ '= =<br />

f '<br />

Ok<br />

Zwischenbildgröße (-)<br />

Okularbrennweite (+)<br />

Der Sehw<strong>in</strong>kel ohne Instrument ist per Def<strong>in</strong>ition auf die deutliche Sehweite oder<br />

Bezugssehweite a s = -250 mm festgelegt.<br />

y Gegenstandsgröße (+)<br />

tan σ = = − a s Bezugssehweite (+)<br />

Damit wird die Vergrößerung:<br />

y'/<br />

z f ' Ok y'<br />

z as<br />

ΓM<br />

= = ⋅ − = β ' Obj. ⋅ ΓOk . (wobei ΓOk = ΓLupe)<br />

(2)<br />

y/<br />

−a<br />

y f '<br />

s<br />

β' Obj ist der <strong>Abbildung</strong>smaßstab des Objektives<br />

Ok<br />

Ok ist die Vergrößerung des Okulars (= Lupenvergrößerung).<br />

2. Versuchsanordnung und Versuchsdurchführung<br />

E<strong>in</strong> <strong>Mikroskop</strong> besteht <strong>im</strong> Pr<strong>in</strong>zip aus e<strong>in</strong>em Tubus, an dessen Enden sich das Objektiv und das<br />

Okular bef<strong>in</strong>den. Damit ist der Abstand von Objektiv und Okular fest. <strong>Die</strong> Größe t (siehe Abb. 1) heißt<br />

optische Tubuslänge. <strong>Die</strong> Scharfstellung des <strong>Mikroskop</strong>bildes <strong>erfolgt</strong> durch Änderung des Abstandes<br />

zwischen Objekt und Objektiv mit Hilfe e<strong>in</strong>es Grob- und Fe<strong>in</strong>triebes.<br />

Im Stativunterteil des <strong>Mikroskop</strong>s bef<strong>in</strong>det sich weiter e<strong>in</strong> Beleuchtungssystem. <strong>Die</strong> Helligkeit der<br />

Objektbeleuchtung wird durch e<strong>in</strong>e Irisblende am Kondensor reguliert (Apertur-Regelung). Alle<br />

Versuche werden <strong>im</strong> Durchlicht durchgeführt.<br />

Achtung: Im allgeme<strong>in</strong>en beg<strong>in</strong>nt man die Scharfstellung mit e<strong>in</strong>em schwachen Objektiv mit e<strong>in</strong>em<br />

großen Gesichtsfeld. Erst dann steigert man durch Objektivwechsel (Drehen des Objektivrevolvers) die<br />

Vergrößerung, bis das Präparat opt<strong>im</strong>al erkennbar ist.<br />

Beg<strong>in</strong>nt man die Beobachtung mit e<strong>in</strong>em mittleren oder starken Objektiv (ab 40-fache<br />

Vergrößerung), besteht die Gefahr, dass das Objektiv auf das Objekt stößt und beschädigt wird.<br />

Bilde<strong>in</strong>stellung: Den Objekttisch mittels Grobtrieb soweit anheben, bis man bei Betrachtung von der<br />

Seite her zwischen Präparat (Objektträgerplatte, Objektmikrometer usw.) und Objektiv nur noch e<strong>in</strong>en<br />

schmalen Luftspalt sieht. Danach senkt man bei Beobachtung durch das Okular den Objekttisch soweit<br />

ab, bis das mikroskopische Bild sichtbar wird. Mit dem Fe<strong>in</strong>trieb wird es danach scharf e<strong>in</strong>gestellt.<br />

<strong>Mikroskop</strong> WS 00/01


<strong>MIK</strong> Seite 3<br />

2.1 Versuch 1: Best<strong>im</strong>mung der Vergrößerungseigenschaften des <strong>Mikroskop</strong>s<br />

a) <strong>Mikroskop</strong>vergrößerung M<br />

<strong>Die</strong>ser Versuch muss mit dem geraden Tubus erfolgen.<br />

Man beobachtet e<strong>in</strong>mal durch das <strong>Mikroskop</strong> e<strong>in</strong> Objektmikrometer (Strichgitter mit bekannter<br />

Teilung: 2 mm = 200 Skt.) und gleichzeitig mit dem anderen Auge am <strong>Mikroskop</strong> vorbei e<strong>in</strong>en<br />

Maßstab (L<strong>in</strong>eal). Der Maßstab liegt <strong>im</strong> Abstand L vom Auge entfernt auf dem Objekttisch. Mit<br />

e<strong>in</strong>iger Übung können beide Bilder übere<strong>in</strong>ander- bzw. nebene<strong>in</strong>anderliegend wahrgenommen werden.<br />

E<strong>in</strong>e Strecke y auf dem Objektmikrometer überdeckt dann e<strong>in</strong> Stück der Länge B des Maßstabes.<br />

Für die <strong>Mikroskop</strong>vergrößerung M gilt dann:<br />

B<br />

y<br />

Bas<br />

tan σ' = − und tan σ = , ⇒ Γ M =<br />

(3)<br />

L<br />

− a<br />

yL<br />

s<br />

<br />

Best<strong>im</strong>men Sie die <strong>Mikroskop</strong>vergrößerung M für die drei vorhandenen Objektive<br />

und jeweils dem selben Okular.<br />

(Messunsicherheiten best<strong>im</strong>men!)<br />

b) <strong>Abbildung</strong>smaßstabes β ' Obj des Objektives<br />

<strong>Die</strong>ser Versuch und alle weiteren Versuche erfolgen mit dem Umlenktubus.<br />

Zur Best<strong>im</strong>mung von β' Obj misst man die Zwischenbildgröße y z ' e<strong>in</strong>es bekannten Objektes<br />

(Objektmikrometer) aus. Dazu stellt man das <strong>Mikroskop</strong> zunächst auf das Strichgitter des<br />

Objektmikrometers scharf und wechselt dann das Okular gegen e<strong>in</strong>en Mattscheibene<strong>in</strong>satz mit Skala<br />

aus. <strong>Die</strong> <strong>Mikroskop</strong>e<strong>in</strong>stellung darf dabei nicht verändert werden! Das Zwischenbild ist auf der<br />

Mattscheibe so zu justieren, dass es mit dem Vergleichsmaßstab der Mattscheibe zur Deckung kommt.<br />

Anstelle des Mattscheibene<strong>in</strong>satzes kann auch e<strong>in</strong> Messokular mit e<strong>in</strong>em festen Strichmaßstab <strong>in</strong> der<br />

Zwischenbildebene verwendet werden.<br />

Aus Objektgröße y und Zwischenbildgröße y' z (Mattscheibenmaßstab) ergibt sich der<br />

<strong>Abbildung</strong>smaßstab β' Obj zu:<br />

y'<br />

z (-)<br />

β' Obj. =<br />

(4)<br />

y (+)<br />

Best<strong>im</strong>men Sie für die 3 gegebenen Objektive jeweils den <strong>Abbildung</strong>smaßstab ' Obj. .<br />

(Meßunsicherheiten best<strong>im</strong>men!)<br />

c) Okularvergrößerung Ok<br />

Berechnen Sie die Okularvergrößerung aus der Gesamtvergrößerung M und dem<br />

<strong>Abbildung</strong>smaßstab β' Obj unter Verwendung von Gleichung 2 .<br />

(Messunsicherheiten angeben!)<br />

d) Objektivbrennweite f' Obj.<br />

<strong>Die</strong> Objektivbrennweite wird aus dem <strong>Abbildung</strong>smaßstab und der optischen Tubuslänge t<br />

berechnet (siehe Abb.1).<br />

a' a' f ' Obj.<br />

t<br />

β' Obj.<br />

= = − = wobei t = 160 mm<br />

a -f'<br />

f '<br />

Obj. Obj.<br />

<br />

Berechnen Sie die Brennweiten der drei vorhandenen Objektive.<br />

(Messunsicherheiten angeben!)<br />

<strong>Mikroskop</strong> WS 00/01


<strong>MIK</strong> Seite 4<br />

2.2 Versuch 2: Best<strong>im</strong>mung der Auflösungsgrenze<br />

Nach der Abbé'schen Theorie des Auflösungsvermögens, muss für e<strong>in</strong> kohärent (z.B. mit e<strong>in</strong>em Laser)<br />

beleuchtetes Objekt m<strong>in</strong>destens die 1. Beugungsordnung <strong>in</strong> das Objektiv e<strong>in</strong>treten, damit überhaupt e<strong>in</strong><br />

Bild des Objektes entsteht. Je mehr Beugungsordnungen <strong>in</strong> das Objektiv e<strong>in</strong>treten, um so schärfer wird<br />

das Bild, da erst alle Beugungsordnungen zusammen die gesamte Bild<strong>in</strong>formation geben.<br />

Das abzubildende Objekt soll <strong>im</strong> folgenden e<strong>in</strong> e<strong>in</strong>faches Strichgitter se<strong>in</strong>.<br />

Wenn σ der Beugungsw<strong>in</strong>kel für die 1.Ordnung ist,<br />

dann gilt nach der Theorie der Beugung am Gitter für<br />

die kle<strong>in</strong>stmögliche Gitterkonstante d m<strong>in</strong> :<br />

d m<strong>in</strong> =<br />

λ<br />

s<strong>in</strong>σ<br />

(5)<br />

<strong>Die</strong> Auflösungsgrenze des Objektives ist erreicht, wenn<br />

die 1. Beugungsordnung <strong>in</strong> den Strahlenkegel von Gl. 5<br />

fällt und entspricht dann dem Wert d m<strong>in</strong> .<br />

Objektiv<br />

Da e<strong>in</strong> Objekt <strong>im</strong> <strong>Mikroskop</strong> auch schräg beleuchtet<br />

wird oder auch selbst leuchtet (<strong>in</strong>kohärent), verkle<strong>in</strong>ert<br />

<br />

<br />

sich der Wert für d m<strong>in</strong> noch bis zu e<strong>in</strong>em Faktor 2.<br />

(Der Beugungsw<strong>in</strong>kel kann dann doppelt so groß se<strong>in</strong>,<br />

H <br />

wie der feste halbe Öffnungsw<strong>in</strong>kel ).<br />

Bef<strong>in</strong>det sich weiter e<strong>in</strong> Medium zwischen Objekt und<br />

Objekttisch<br />

Objektiv, ergibt sich schließlich:<br />

λ0<br />

dm<strong>in</strong><br />

=<br />

2ns<strong>in</strong>σ<br />

mit:<br />

<strong>Mikroskop</strong> WS 00/01<br />

(5a)<br />

Abb.2: Anordnung zur Best<strong>im</strong>mung<br />

der numerischen Apertur<br />

λ 0 = Vakuumlichtwellenlänge<br />

n = Brechzahl des Mediums zwischen Objekt und Objektiv (λ = λ 0 /n)<br />

2σ= Öffnungsw<strong>in</strong>kel der vom Objektiv aufgenommenen Lichtbündel<br />

n s<strong>in</strong>σ = NA numerische Apertur des Objektives (nach Abbé)<br />

Das Objektiv blendet meist die höheren Beugungsordnungen aus, wodurch die <strong>in</strong> ihnen enthaltene<br />

Bild<strong>in</strong>formation verloren geht. <strong>Die</strong> Unschärfe wird alle<strong>in</strong> durch die Beugung verursacht, selbst wenn<br />

alle anderen <strong>Abbildung</strong>sfehler behoben s<strong>in</strong>d.<br />

Versuchsdurchführung und Auswertung<br />

<strong>Die</strong> Auflösungsgrenze des <strong>Mikroskop</strong>s wird mit der numerischen Apertur NA = n s<strong>in</strong>σ des Objektives<br />

berechnet. Der W<strong>in</strong>kel σ wird nach dem <strong>in</strong> Abb. 2 dargestellten Verfahren gemessen.<br />

Zunächst wird e<strong>in</strong> Plexiglasklotz der Höhe H = 10 mm auf se<strong>in</strong>e obere Seite scharf gestellt.<br />

Dann entfernt man Plexiglasklotz und Okular (alles Übrige nicht verändern!) und setzt die Vorrichtung<br />

mit den beiden Schiebern auf den <strong>Mikroskop</strong>tisch. An die Stelle des Okulars wird e<strong>in</strong>e kle<strong>in</strong>e<br />

Lochblende e<strong>in</strong>gesetzt. <strong>Die</strong> beiden Schieber werden nun von beiden Seiten so weit<br />

zusammrngeschoben, dass sie gerade <strong>im</strong> Gesichtsfeld des Objektives ersche<strong>in</strong>en. Der Abstand K wird<br />

mit der Schieblehre gemessen. Aus den Messwerten von H und K lässt sich dann der W<strong>in</strong>kel σ<br />

best<strong>im</strong>men: tan = (K/2)/H.<br />

Für e<strong>in</strong>e bessere Ausleuchtung entfernt man den Kondensor und hält die Lampe direkt unter den<br />

<strong>Mikroskop</strong>tisch !<br />

Best<strong>im</strong>men Sie die NA der 3 Objektive und vergleichen Sie sie mit den Angaben auf dem Objektiv.<br />

Best<strong>im</strong>men Sie die Auflösungsgrenze der 3 Objektiven mit 5, 10 und 40 facher Vergrößerung .<br />

Als Lichtwellenlänge verwende man λ = 550 nm (max<strong>im</strong>ale Augenlichtempf<strong>in</strong>dlichkeit).<br />

(Messunsicherheiten angeben)<br />

K


<strong>MIK</strong> Seite 5<br />

2.3 Versuch 3: Brechzahlbest<strong>im</strong>mung durch Messung der optischen Dicke<br />

Trifft e<strong>in</strong> Lichtstrahl (nach Abb. 3) bei B auf e<strong>in</strong>e<br />

planparallele Glasplatte, so wird er zwe<strong>im</strong>al<br />

gebrochen und läuft nach Verlassen der Glasplatte<br />

parallel versetzt weiter.<br />

E<strong>in</strong>em Beobachter ersche<strong>in</strong>t damit der Punkt B<br />

nach C angehoben.<br />

s = Dicke der Platte<br />

n = Brechzahl der Glasplatte<br />

s<br />

<br />

A<br />

'<br />

C<br />

B<br />

h<br />

n<br />

A<br />

C<br />

B<br />

Für die Anhebung h gilt:<br />

Abb.3: Zur Messung der optischen Dicke<br />

⎛ 1cosε<br />

⎞<br />

h = ⎜1−<br />

⎟ ⋅ s<br />

⎝ n cos ε'<br />

⎠<br />

(6a)<br />

Bei steilem E<strong>in</strong>fall gilt näherungsweise:<br />

n −1<br />

h = ⋅ s<br />

n<br />

Daraus ergibt sich für die sche<strong>in</strong>bare Dicke: s - h = s/n bzw.<br />

n =<br />

s<br />

s−<br />

h<br />

(6b)<br />

(7)<br />

E<strong>in</strong> Stück Glas ersche<strong>in</strong>t also unter dem <strong>Mikroskop</strong> dünner als <strong>in</strong> Wirklichkeit. Das Verhältnis<br />

zwischen der wahren Dicke s und dieser sche<strong>in</strong>baren Dicke (s - h) ist näherungsweise gleich der<br />

Brechzahl n (Gl.7). <strong>Die</strong> wahre Dicke s wird mit der Schieblehre best<strong>im</strong>mt.<br />

Versuchsdurchführung und Auswertung<br />

<strong>Die</strong> sche<strong>in</strong>bare Dicke kann auf <strong>zwei</strong> verschiedene Arten gemessen werden:<br />

Methode a) Man stellt nache<strong>in</strong>ander das <strong>Mikroskop</strong> auf die obere und untere Fläche der Probe scharf .<br />

<strong>Die</strong> Anhebung des Tisches, die mit e<strong>in</strong>er Messuhr ermittelt wird, ergibt unmittelbar (s - h).<br />

Methode b)Zunächst stellt man auf irgende<strong>in</strong>e Marke e<strong>in</strong>er Hilfsträgerplatte scharf e<strong>in</strong>.<br />

Dann legt man die Probe auf den Hilfsträger stellt erneut auf die Marke scharf.<br />

Aus der Absenkung des Tisches ergibt sich unmittelbar die Größe h.<br />

<br />

Best<strong>im</strong>men Sie die Brechzahl e<strong>in</strong>er ca. 2-3 mm dicken Probenplatte aus Glas mit den beiden<br />

Objektiven (5x / 10x) nach Methode a) und b)<br />

(Das Objektiv 40x nicht verwenden - Beschädigungsgefahr!)<br />

Best<strong>im</strong>men Sie die Brechzahl e<strong>in</strong>er ca. 6 mm dicken Probenplatte aus Plexiglas mit den<br />

beiden Objektiven (5x / 10x) nach Methode b).<br />

(Messunsicherheiten best<strong>im</strong>men!)<br />

Überlegungsfragen:<br />

Welche Methode eignet sich für dickere Proben und kurzbrennweitige Objektive besser ?<br />

<br />

Wie sollte die Dicke der Probenplatte gewählt werden, um die Messungenauigkeit möglichst<br />

ger<strong>in</strong>g zu halten ? Gibt es e<strong>in</strong>e Grenzdicke ?<br />

<strong>Mikroskop</strong> WS 00/01


<strong>MIK</strong> Seite 6<br />

3. Testfragen<br />

1) Wie ist e<strong>in</strong> <strong>Mikroskop</strong> aufgebaut?<br />

Skizzieren Sie den Strahlengang. Wie kommt die Vergrößerung zustande ?<br />

2) Wie verläuft der Strahlengang bei e<strong>in</strong>er Lupe und wie kommt die Vergrößerung zustande ?<br />

3) Wo muss man <strong>im</strong> <strong>Mikroskop</strong> e<strong>in</strong>e Strichplatte anbr<strong>in</strong>gen, damit Größenmessungen am Objekt<br />

möglich s<strong>in</strong>d ?<br />

4) Warum lässt sich die Vergrößerung <strong>im</strong> <strong>Mikroskop</strong> nicht unbegrenzt steigern ?<br />

5) Welchen E<strong>in</strong>fluss hat die Apertur des <strong>Mikroskop</strong>objektivs auf die Auflösungsgrenze ?<br />

6) Welchen E<strong>in</strong>fluss hat die Apertur des Kondensors auf die Auflösungsgrenze ?<br />

7) Welche Bedeutung haben die Angaben auf dem <strong>Mikroskop</strong>objektiv ?<br />

Anhang<br />

Abb.4: Das verwendete <strong>Mikroskop</strong> mit den wichtigsten Bauteilen.<br />

1 Fußplatte 12 Klemmschraube für den Kondensor<br />

2 Leuchte 13 Objekttisch<br />

3 Drehschalter 14 Objektführer<br />

4 Grobtrieb und Fe<strong>in</strong>trieb 15 federnde Präparatklemme<br />

5 Kondensortrieb 16 Stativ-Oberteil<br />

6 Kondensor 17 Objekive<br />

7 Koaxialverstellung für den Objektführer 18 Objektivrevolver<br />

8 Filterhalter 19 Klemmschraube für die Tubusbefestigung<br />

9 Justierschrauben f. Kondensorzentrierung 20 Wechselbajonett<br />

10 Irisblende 21 Tubus<br />

11 Klemmschrauben für den Objektführer 22 Okularstutzen<br />

<strong>Mikroskop</strong> WS 00/01

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