IGF-Projekt - 15462 N - Chipumspritzen - Mikroaufbautechnik am ...
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<strong>IGF</strong> Vorhaben Nr. <strong>15462</strong>N<br />
Das Versuchsergebnis zeigt deutlich, dass eine zuverlässige Vi<strong>am</strong>etallisierung nur möglich<br />
ist, wenn der Elektrolyt die Sacklöcher direkt anströmt bzw. die Substrate so im Elektrolyten<br />
bewegt werden, dass der Elektrolyt in die Vias gepresst wird und die entstehenden<br />
Prozessgase aus den Vias entweichen können. Weiterhin ist ersichtlich, dass der Einsatz<br />
von Gestellrüttlern keinen signifikanten Einfluss auf die Sacklochmetallisierung hat. Es ist<br />
ebenso ersichtlich, dass der Viadurchmesser einen erheblichen Einfluss auf die<br />
Metallisierung hat. Abbildung 56 zeigt, dass die Vias welche mit Bohrpar<strong>am</strong>eter 3 erzeugt<br />
wurden gegenüber den Vias, welche mit Bohrpar<strong>am</strong>eter 4 hergestellt wurden, einen deutlich<br />
höheren Wiederstand aufweisen.<br />
4.3 Untersuchungen zu geometrischen Toleranzen beim Laserbohren<br />
Ein sehr wichtiger Aspekt beim Laserbohren stellt die Wiederholgenauigkeit der Ausrichtung<br />
der Laserstruktur bezüglich des Substrates dar. In der Regel wird die Laserstruktur auf<br />
einem Bauteil mit sichtbaren Bezugskanten ausgerichtet. Eine Herausforderung in diesem<br />
<strong>Projekt</strong> bestand darin, das Laserlayout auf den nicht sichtbaren Chip im Package<br />
auszurichten. Aus diesem Grund musste bereits beim Sägen der Chips und beim Aufbau des<br />
Spritzgusswerkzeugs auf sehr enge Toleranzen geachtet werden.<br />
Das Substrat wurde beim Einrichten des Laserprozesses an einem Anschlag positioniert.<br />
Anschließend erfolgte der Laserstrukturierungs- und Laserbohrprozess. Zur Überprüfung der<br />
Positionierung des Layouts wurde über dem Chip der Thermoplast entfernt und die Lage der<br />
Bohrungen auf dem Pad betrachtet und korrigiert. Im Anschluss daran erfolgte die<br />
Strukturierung sämtlicher Substrate.<br />
Für die Ermittlung der Wiederholgenauigkeit bei der Positionierung des Layouts wurden die<br />
Substrate nach der Laserstrukturierung metallisiert und mittels Röntgendurchstrahlverfahren<br />
analysiert und vermessen.<br />
Im ersten Schritt wurden Substrate vermessen, bei denen die Positionierung des<br />
Laserlayouts anhand der sichtbaren Strukturen auf dem Chip erfolgte. Für diesen Versuch<br />
wurden Substrate hergestellt, bei denen der Chip mit den Kontaktflächen nach unten liegend<br />
in die Spritzgussform eingelegt wurde. Anschließend erfolgte die Laserstrukturierung auf der<br />
Substratrückseite mit den zum Teil freiliegenden Chipkontakten. In Abbildung 57 ist ein<br />
solches Substrat sowie eine CT- Aufnahme zu sehen.<br />
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