Mikrowellenbasierte Dickenmessung von Lack auf CFK - NDT.net
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<strong>Lack</strong>schichten elektrostatisch effektiver <strong>auf</strong>bringen zu können. Diese Grundierung kann als<br />
Reflektor wirken, dann ist auch hier eine <strong>Lack</strong>dickenmessung möglich (siehe Bild 9).<br />
a) b)<br />
Bild 9: <strong>Mikrowellenbasierte</strong> Messung <strong>von</strong> <strong>Lack</strong> <strong>auf</strong> Kunststoff. A) Mikroskopische Aufnahme vom<br />
Querschnitt. b) Phasen mit ihren Streubereichen diverser Proben<br />
Eine etwas andere Anwendung ist die Wandstärkenmessung <strong>von</strong> Glas oder Bauteilen aus<br />
anderen isolierenden Materialien. In diesem Fall kann keine kontaktierende Messung<br />
vorgenommen werden, da, wenn z.B. über dem Umfang gemessen wird, dann die Gefahr<br />
besteht, dass das Glas zerkratzt wird. Es muss somit eine berührungslose Messung<br />
stattfinden. Hierbei ist jedoch der mechanisch nur schwer zu vermeidende schwankende<br />
Abstand zwischen Messsonde und Glas problematisch, da solche Liftoffschwankungen<br />
auch eine Änderung des Reflexionsfaktors zur Folge haben. Mittels geeig<strong>net</strong>er Messtechnik<br />
und entsprechenden Kalibrierkurven lässt sich die Wandstärke mittels Mikrowellen jedoch<br />
trotzdem messen (siehe Bild 10) [4].<br />
a) b)<br />
Bild 10: <strong>Mikrowellenbasierte</strong> <strong>Dickenmessung</strong> <strong>von</strong> Glas. A) Foto <strong>von</strong> Proben. B) Komplexe Ebene des<br />
Reflexionsfaktors mit Kalibrierpunkten<br />
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