Radiation Hardness Studies of Monolithic Active Pixel Sensors ...
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5.2. AUSHEILUNG VON STRAHLENSCHÄDEN 71<br />
Leakage current [fA]<br />
440<br />
420<br />
400<br />
380<br />
360<br />
340<br />
320<br />
300<br />
X-ray radiation<br />
Combined radiation<br />
Funktion: I leakage =I 0 e -t Anneal +I stabil<br />
X-ray Combined<br />
I 0 = (80±14) fA (75±8) fA<br />
I stabil = (337±15) fA (353±8) fA<br />
= (104±58) h (83±30) h<br />
0 40 80 120 160 200 240 280<br />
Annealing time at +20°C [h]<br />
Abbildung 5.9: Leckstrom des <strong>Sensors</strong> als Funktion der Zeit nach Bestrahlung (Lagerung bei<br />
Raumtemperatur) nach einer einzelnen Röntgenbestrahlung (schwarze Quadrate) als auch nach<br />
einer kombinierten Bestrahlung (rote Kreise). Die Fehlerbalken repräsentieren die Streuungsbreite<br />
des Leckstroms der individuellen <strong>Pixel</strong> um den Median. Der statistische Fehler des Medians<br />
ist geringer als die Größe der Punkte.
![GS I -P-]-17 - GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung](https://img.yumpu.com/20698964/1/184x260/gs-i-p-17-gsi-helmholtzzentrum-fur-schwerionenforschung.jpg?quality=85)
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