Radiation Hardness Studies of Monolithic Active Pixel Sensors ...

5.2. AUSHEILUNG VON STRAHLENSCHÄDEN 69
Leakage current [fA]
2,4
2,0
1,6
1,2
0,8
0,4
-20°C
reference
V=0,76 0,08 fA cm²
0,0
0,0 0,5 1,0 1,5 2,0
Leakage current [fA]
2,4
2,0
1,6
1,2
0,8
0,4
Radiation dose [10 13 n/cm²]
(a) T = −20 ◦ C, reference (2008)
-20°C no annealing
V=1,05 0,08 fA cm²
0,0
0,0 0,5 1,0 1,5 2,0
Radiation dose [10 13 n/cm²]
(c) T = −20 ◦ C, new chips, irradiated 2009, no annealing
Leakage current [fA]
2,4
2,0
1,6
1,2
0,8
0,4
possible annealing
-20°C
V=0,74 0,04 fA cm²
0,0
0,0 0,5 1,0 1,5 2,0
Radiation dose [10 13 n/cm²]
(b) T = −20 ◦ C, possible annealing (2009)
Abbildung 5.7: Detailansicht der Graphen
aus Abbildung 5.6 c). Für die
drei Graphen wird ein Linearfit nach
Gleichung 3.5 durchgeführt und der
αV -Wert angegeben.