Radiation Hardness Studies of Monolithic Active Pixel Sensors ...

5.2. AUSHEILUNG VON STRAHLENSCHÄDEN 67
Charge collection efficiency
Leakage current [fA]
1,0
0,9
0,8
0,7
0,6
0,5
0,4
0,3
0,2
0,1
0,0
2,5
2,0
1,5
1,0
0,5
0,0
Reference
Possible annealing
No annealing
0,0 0,5 1,0 1,5 2,0
Radiation dose [10 13 n/cm²]
(a) CCE
Reference
Possible annealing
No annealing
0,0 0,5 1,0 1,5 2,0
Radiation dose [10 13 n/cm²]
(c) Leakage current
Peak position [ADC]
Noise [e]
180
170
160
150
140
130
120
110
100
90
80
22
21
20
19
18
17
16
15
Calibration peak
Collection peak
Reference
Possible annealing
No annealing
0,0 0,5 1,0 1,5 2,0
Radiation dose [10 13 n/cm²]
(b) Peaks
Reference
Possible annealing
No annealing
0,0 0,5 1,0 1,5 2,0
Radiation dose [10 13 n/cm²]
(d) Noise
Abbildung 5.6: Ergebnisse der Ausheilstudie an Sensoren, bestrahlt mit Neutronen und anschließender
einjähriger Lagerung bei Raumtemperatur. Die mögliche Ausheilmessung (possible
annealing, schwarze Quadrate) wird mit zwei Referenzmessungen (reference, blaue Dreiecke/no
annealing, rote Kreise) verglichen. Für den c) Leckstrom wird in Abbildung 5.7 jeweils für jede
Messserie ein linearer Fit durchgeführt.