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Radiation Hardness Studies of Monolithic Active Pixel Sensors ...

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4.4. OBSERVABLEN 41<br />

Entries in histogram<br />

(1bin=0,05e)<br />

500<br />

400<br />

300<br />

200<br />

100<br />

0<br />

rising<br />

Median<br />

falling<br />

55<br />

60,5 63,6<br />

60 61,9 65<br />

Noise [e]<br />

70 75 80<br />

Abbildung 4.5: Verteilung des über die Zeit gemittelten Rauschens aller <strong>Pixel</strong> (graue Fläche).<br />

Der Median wird als rotes Quadrat sowie die beiden Breiten als blauer Kreis eingezeichnet.<br />

Verteilung durch Mittelwert und Standardabweichung nicht angemessen. Stattdessen wird der<br />

Median der Verteilung bestimmt [Büd08]. Der statistische Fehler der Leckstrommessung ist<br />

vernachlässigbar klein. Wichtiger ist hingegen die Breite der Leckstromverteilung, die aus die<br />

aus Toleranzen während der Herstellung resultiert.<br />

Der Median repräsentiert damit als Mittelwert den durchschnittlichen Leckstrom aller <strong>Pixel</strong>,<br />

während die Fehlerbalken die Breite der Herstellungstoleranz der <strong>Pixel</strong> im Hinblick auf den<br />

Leckstrom darstellen.<br />

4.4.2 Rauschen<br />

Wie bereits in Abschnitt 2.2.1 ausgeführt und in Abbildung 4.3 an einem Beispiel gezeigt,<br />

schwankt das Signal nach Anwendung von CDS um einen Mittelwert, der mit dem Leckstrom<br />

dieses <strong>Pixel</strong> identifiziert werden kann. Die Varianz der Fluktuationen ist ein Maß für das Rauschen<br />

des <strong>Pixel</strong>.<br />

Das Rauschen eines Chips wird in drei Schritten bestimmt. Erstens wird für jedes einzelne

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