Radiation Hardness Studies of Monolithic Active Pixel Sensors ...

26 KAPITEL 3. STRAHLENSCHÄDEN
Recharge constant [ms]
140
130
120
110
100
90
80
70
60
50
40
30
20
10
0
Noise [e]
30
20
10
+10°C
Mimosa11
Array2 Submatrix1
0 200 400 600 800 1000
Radiation dose [kRad]
(a) Nachladekonstante τ
Mimosa15
Array1 Submatrix 2
0 200 400 600 800 1000
Radiation dose [kRad]
(c) Rauschen
Leakage current [fA]
-20°C
+20°C
90
80
70
60
50
40
30
20
10
0
+20°C
Mimosa15
Array 1 Submatrix2
0 200 400 600 800 1000
Radiation dose [kRad]
(b) Leckstrom
Abbildung 3.4: Änderungen der Leistungsdaten
eines MAPS nach Röntgenbestrahlung.
Die Nachladekonstante
sinkt, Leckstrom und Rauschen steigen
an. Auch nach einer Röntgenbestrahlung
lässt sich der durch die Bestrahlung
bedingte Anstieg des Rauschens
durch Kühlen der Sensoren verringern.
Die Daten wurden [AY07] entnommen.