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Radiation Hardness Studies of Monolithic Active Pixel Sensors ...

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10 KAPITEL 2. MONOLITHIC ACTIVE PIXEL SENSOREN (MAPS)<br />

Abbildung 2.5: Signalentschlüsselung eines SB-<strong>Pixel</strong> (kontinuierlich).<br />

5. Die nächste Integrationszeit enthält wiederum keine Signalladung, so dass das Signal<br />

nach Anwendung von CDS durch den Leckstrom bestimmt wird.<br />

6. Die Teilchenidentifikation wird durch einen Vergleich der Signale durchgeführt. Dazu wird<br />

eine Schwelle (threshold) angesetzt und mit jedem Signal, das die Schwelle übersteigt,<br />

wird Signalladung postuliert. Dieses Signal wird als Treffer (hit) bezeichnet.<br />

Durch Vergleich mit Signalen nach Anwendung von CDS ohne Signalladung kann der als<br />

konstant angenommene Leckstrom abgezogen werden, so dass nun die von einem <strong>Pixel</strong> in einer<br />

bestimmten Integrationszeit gespeicherte Signalladung bekannt ist.<br />

Die Datenverarbeitung kann benachbarte <strong>Pixel</strong> mit einer niedrigeren Schwelle auslesen und<br />

somit Clusterinformationen erstellen, die mit einer Schwerpunktsanalyse eine noch bessere<br />

Ortsauflösung ermöglichen.<br />

2.2.2 Signalaufbereitung im Fall des SB-<strong>Pixel</strong><br />

Der Einsatz einer Ladediode statt eines Resettransistors erlaubt es, in einem SB-<strong>Pixel</strong> zwei<br />

Nachteile des 3T-<strong>Pixel</strong> zu kompensieren. Erstens ermöglicht der kontinuierliche Ausgleich<br />

des Leckstromes eine fortlaufende Auslese ohne Unterbrechungen durch den Resetvorgang.

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