Photoelektron-Photoion-Koinzidenz- spektroskopie mit ...

2.1. Statistik wahrer und zufalliger Koinzidenzen 71
R ZK (2+) / R WK (2+)
ΔN WK (2+) / N WK (2+) [%]
NZK (2+) ~ R(2+)
0.00 0.32 0.63 0.95 1.27 1.59 1.90
Xe 4d -1
5/2
hν = 93 eV
EA = 25.5 eV
T Mess = je 200 s
opt
R Sig,W
Anstieg durch
TDC-Totzeitverluste
0
4.0
3.0
2.0
1.0
0 200 400 600 800 1000 1200 0.0
R Sig,W (E A ) [s -1 ] ~ R e - (E A )
Abbildung 2.4: Ergebnis einer Serie von Koinzidenzmessungen der Xe 4d 5=2-Photolinie bei
h = 93 eV und EA =25:5 eV. Oben: Gemessenes Verhaltnis der Raten zufalliger und wahrer
Koinzidenzen fur den (2+)-Endzustand. [- -]: Linearer Fit an die Me daten. Unten: Relativer
Me fehler der Anzahl wahrer Koinzidenzen NWK(2+) nach einer Me dauer TMess von je 200 s.
[|]: Berechneter Verlauf des Me fehlers gema (2.36) mit den gemessenen Parametern RSig;Z =
3s ,1 ,N K(2+) =0:175 und RSig;W(EA)=NZK(2+) = 630 s ,1 . Die Abszissenskalierung ist fur
beide Bildteile gultig.
Ein ungefahres Ma fur die optimal einzustellende Erzeugungsrate wird aus (2.36) durch Extremwertbildung
gewonnen (fur RSig;Z 1=tZyk, tZyk =const., (n+) 0):
R opt
Sig;W (EA;n+)=
" 1
tZyk
RSig;Z(EA)+ N K(n+)
2
10
8
6
4
2
RSig;W(EA)
NZK(n+)
!# 1
2
(2.38)
Die aus (2.38) berechnete, optimale Elektronensignalrate ist in der Abbildung mit einem Pfeil
gekennzeichnet. Sie liegt wegen der vernachlassigten Totzeite ekte des TDC etwas zu hoch.
Abhangig von der gewahlten Analysatorenergie EA und dem dadurch selektierten Proze (z. B.