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Photoelektron-Photoion-Koinzidenz- spektroskopie mit ...

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70 Kapitel 2. Statistik und Auswertung<br />

Punkt 1. Bei den im Rahmen dieser Arbeit durchgefuhrten Messungen war das Produkt<br />

aus Erzeugungsrate R(n+) und Zeitfenster t allerdings so klein, da man den E ekt vernachlassigen<br />

konnte. Beispielsweise ergibt sich aus (1.15) <strong>mit</strong> den charakteristischen Werten<br />

(h ; n+) =20 Mb, (h )=10 12 s ,1 , F =3 mm 2 , NAtom =1:5 10 8 fur tW =80 ns:<br />

R(n+)=10 5 s ,1 und (n+) 0:004, was die obige Naherung rechtfertigt. Bei zukunftigen<br />

Messungen, etwa bei Einsatz intensiverer Synchrotronlichtquellen wie BESSY II, konnten die<br />

Erzeugungsraten so gro werden, da ein makroskopischer E ekt auftritt, der dann bei der<br />

Einstellung der Erzeugungsrate berucksichtigt werden mu .<br />

3. Bestimmung der optimalen Erzeugungsrate: Der relative, statistische Fehler von<br />

NWK(n+) nach der Me dauer TMess und bei zeitlich konstanter Ionisationsrate berechnet sich<br />

durch gau sche Fehlerfortp anzung aus (2.23) unter Verwendung von (2.12), (2.13), (2.15) {<br />

(2.20), (2.30) und (2.33) zu<br />

NWK(n+)<br />

NWK(n+) =<br />

"<br />

1<br />

RSig;WTMess<br />

| {z }<br />

wahre e ,<br />

(1 + RSig,e ,<br />

| {z<br />

tZyk)<br />

}<br />

e , -Signalverluste<br />

(1 + RSig;Z<br />

)<br />

RSig;W<br />

| {z }<br />

zufallige e ,<br />

2 NZK(n+)<br />

+<br />

N 2<br />

K(n+)<br />

1<br />

N K(n+)<br />

| {z }<br />

Di erenzbildung<br />

(2.36)<br />

Dabei wurde zusatzlich gema (2.33) das <strong>mit</strong>tlere (n+)-Di erenzsignal pro wahrem Start<br />

de niert:<br />

N K(n+) := R K(n+)<br />

: (2.37)<br />

RStart;W<br />

Der Ursprung der einzelnen fehlerbestimmenden Terme ist angegeben. Um die Gultigkeit des<br />

Zusammenhangs (2.36) zu uberprufen, wurde eine Reihe von <strong>Koinzidenz</strong>messungen <strong>mit</strong> jeweils<br />

gleicher Me dauer, aber unterschiedlicher Ionisationsrate durchgefuhrt. Das Ergebnis der<br />

Me reihe an 4d-<strong>Photoelektron</strong>en in Xe ist in Abbildung 2.4 zu sehen:<br />

Im oberen Teil der Abbildung ist das gemessene Verhaltnis von wahren zu zufalligen <strong>Koinzidenz</strong>en<br />

fur den (2+)-Endzustand aufgetragen. Dieses Verhaltnis ergibt sich aus der Auswertung<br />

der <strong>Koinzidenz</strong>- und Referenzspektren <strong>mit</strong> der in Abschnitt 2.2 beschriebenen Methode. Da die<br />

Rate zufalliger Starts bei den Messungen vernachlassigbar war (siehe Bildunterschrift), ergibt<br />

sich gema (2.27) ein linearer Anstieg des Verhaltnisses <strong>mit</strong> der Erzeugungsrate.<br />

Der untere Teil der Abbildung zeigt den relativen Me fehler der berechneten Anzahl wahrer<br />

<strong>Koinzidenz</strong>en, NWK(2+)=NWK(2+) nach jeweils gleicher Me dauer. Vor allem bei niedrigen<br />

Erzeugungsraten ist ein starker Anstieg des Me fehlers zu beobachten. Zu hoheren Erzeugungsraten<br />

steigt der Fehler etwas starker als berechnet, da sich hier Totzeitverluste des TDC<br />

bei der Ionensignalregistrierung ( " Pile-up\-E ekt, siehe nachster Abschnitt) bemerkbar machen,<br />

die in (2.36) nicht berucksichtigt wurden. Durch diesen Totzeite ekt gehen auch wahre<br />

<strong>Koinzidenz</strong>en verloren, wodurch der Me fehler steigt. Insgesamt ist jedoch erfreulich, da der<br />

Me fehler uber einen weiten Bereich nahezu unabhangig von der Erzeugungsrate ist.<br />

# 1<br />

2

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