Photoelektron-Photoion-Koinzidenz- spektroskopie mit ...
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66 Kapitel 2. Statistik und Auswertung<br />
ein. Es ergibt sich nunmehr ein direkt berechenbarer Ausdruck fur die gesuchten Wahrscheinlichkeiten:<br />
p(n+) =<br />
1<br />
^W(n+)<br />
1<br />
^(n+)<br />
NWK(n+)<br />
NWK;<br />
(2.25)<br />
Im folgenden soll der Ein u der verschiedenen Gro en analysiert werden, durch die der Me -<br />
fehler der Wahrscheinlichlichkeiten p(n+), die das Me ergebnis einer <strong>Koinzidenz</strong>messung darstellen,<br />
bestimmt wird.<br />
Ein u der relativen Parameter<br />
Im Zusammenhang <strong>mit</strong> (2.25) stellt sich die Frage, wie genau die relativen Transmissionen und<br />
Nachweiswahrscheinlichkeiten experimentell bekannt sind, d. h. welche systematischen Fehler<br />
diese Gro en bei der Auswertung hervorrufen konnen:<br />
Die relativen Transmissionen ^W(n+) stellen dabei das geringere Problem dar. Sie hangen im<br />
wesentlichen von den radialen thermischen Geschwindigkeiten der erzeugten Ionen bezuglich<br />
der TOF-Achse ab. Fur ein untersuchtes Element ist die relative Transmission umso kleiner, je<br />
geringer die Ladung der betrachteten Ionensorte ist, da niedriger geladene Ionen weniger stark<br />
beschleunigt werden und dann wahrend der Analyse mehr Zeit besitzen, sich radial auszubreiten.<br />
Zwar sind die Transmissionen nicht direkt me bar, eine Simulation ergab jedoch fur die<br />
untersuchten Elemente Werte zwischen 0.98 und 1.00 (Ausnahme: La + , vgl. Abschnitt 1.3.7).<br />
Die relativen Fehler dieser kleinen Korrekturen konnen <strong>mit</strong> < 2% abgeschatzt werden.<br />
Einen gro eren Ein u auf das Me ergebnis besitzen die relativen Nachweiswahrscheinlichkeiten<br />
^(n+), die durch eine separate Eichmessung bestimmt werden mussen (vgl. Abschnitt 1.3.6).<br />
Da diese Eichmessungen hau g ungenau sind, liegt in den ^(n+) die experimentelle Hauptquelle<br />
fur systematische Fehler. Bei den experimentell verwendeten Beschleunigungsspannungen ist<br />
wie bei den Transmissionen die relative Nachweiswahrscheinlichkeit umso kleiner, je geringer<br />
die Ladung des betrachteten Ions ist.<br />
Charakteristische Werte fur ^(n+) bei vier erzeugten Ionensorten (n+=1+:::4+) und n0 =4<br />
liegen bei 0.50 { 0.70 (rel. Fehler: 10 { 15 %) fur (1+)-Ionen, 0.80 { 0.90 (3{8%) fur (2+)-<br />
Ionen und 0.95 { 0.99 (1{3%) fur (3+)-Ionen. Zur Vereinfachung der Nachweiswahrscheinlichkeits-Eichung<br />
emp ehlt sich das auf Seite 45 vorgeschlagene Verfahren, welches die in<br />
der Eichmessung bei einer bestimmten Photonenenergie gewonnenen Verhaltnisse an partielle<br />
<strong>Photoion</strong>isationswirkungsquerschnitte anknupft. Dadurch werden korrekte Intensitatsverhaltnisse<br />
fur jede Photonenenergie im untersuchten Energiebereich zur Verfugung gestellt. Die<br />
Nachweiswahrscheinlichkeiten von <strong>Koinzidenz</strong>messungen ergeben sich dann un<strong>mit</strong>telbar durch<br />
Vergleich der gemessenen Intensitatsverhaltnisse der zugehorigen Referenzmessungen <strong>mit</strong> den<br />
geeichten Intensitatsverhaltnissen.