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Photoelektron-Photoion-Koinzidenz- spektroskopie mit ...

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1.3. Me verfahren 45<br />

hierfur nur die Auftre energie der (1+)-Ionen sukzessive gleich den Auftre energien der hohergeladenen<br />

Ionen gesetzt werden. Dies erfordert jedoch zusatzlichen Aufwand, da der Detektor<br />

gegen Masse auf mindestens ,9 kV (bei (4+)-Ionen auf ,12 kV) hochgelegt werden mu .<br />

Mit niedrigeren Spannungen kommt man aus, wenn man fordert, da nur die Wertebereiche<br />

benachbarter Ionensorten (also 1+ und 2+, 2+und 3+, usw.) uberlappen mussen. Ein Beispiel<br />

fur solche Me reihen an Xe zeigt Abbildung 1.23. Die Schwierigkeit, den richtigen Verlauf<br />

von (EKin) zu nden, besteht darin, die relativen Intensitaten der einzelnen Ionensorten im<br />

uberlappenden Bereich korrekt anzupassen.<br />

Wie man erkennt, unterscheiden sich die Nachweiswahrscheinlichkeiten der einzelnen Ionensorten<br />

erheblich, was ihre Kenntnis fur eine korrekte Auswertung von TOF- und <strong>Koinzidenz</strong>messungen<br />

unabdingbar macht. Leider lassen sich die gewonnenen Verhaltnisse in der Regel nicht<br />

genau reproduzieren, da sie extrem von den exakten Einstellungen des Detektionssystems<br />

abhangen. Es stellt sich daher die Frage, wie man ohne standige Neu-Eichung des Detektionssystems<br />

<strong>Koinzidenz</strong>messungen, die an verschiedenen Me tagen oder bei verschiedenen<br />

Photonenenergien aufgenommen wurden, hinsichtlich ihrer -Verhaltnisse korrekt aneinander<br />

anpassen kann.<br />

Die Losung dieses Problems ist schnell gefunden: Bei der Eichmessung (Abbildung 1.23) werden<br />

fur jede Ionensorte Signalraten bzw. Intensitaten bestimmt. Die Verhaltnisse dieser Signalraten<br />

sind gema (1.17) <strong>mit</strong> Verhaltnissen der partiellen <strong>Photoion</strong>isationswirkungsquerschnitte<br />

(h ; n+)= (h ; n 0 +) bei der eingestellten Photonenenergie der Eichmessung h E verknupft 8 :<br />

(h E;n+)<br />

(h E;n 0 +) =<br />

(n 0 +)<br />

(n+)<br />

!<br />

E<br />

RSig(n+)<br />

RSig(n 0 +)<br />

!<br />

E<br />

(1.19)<br />

Eine entsprechende Gleichung gilt aber fur jede beliebige Ionenratenmessung, also auch fur die<br />

Referenzmessung (R), die parallel zu jeder <strong>Koinzidenz</strong>messung (K) durchgefuhrt wird. Aus<br />

der Kenntnis des Verlaufs der -Verhaltnisse kann man dann gema<br />

(n+)<br />

(n 0 +)<br />

!<br />

K<br />

=<br />

(n+)<br />

(n 0 +)<br />

!<br />

R<br />

= (h ; n0 +)<br />

(h ; n+)<br />

RSig(n+)<br />

RSig(n 0 +)<br />

!<br />

R<br />

(1.20)<br />

fur eine beliebige <strong>Koinzidenz</strong>messung bei einer Photonenenergie h 6= h E die gesuchten<br />

-Verhaltnisse bestimmen.<br />

Da dieses Verfahren zum einen zeitsparend ist, zum anderen den Vorteil hat, da samtliche<br />

Messungen auf eine feste Referenz normiert werden, emp ehlt es sich, direkt im Anschlu an<br />

die -Eichmessungen <strong>mit</strong> denselben Einstellungen die partiellen <strong>Photoion</strong>isationswirkungsquerschnitte<br />

(h ; n+) im untersuchten Photonenenergiebereich zu messen.<br />

8 Der in der Regel vernachlassigbare Ein u der relativen Transmissionen (vgl. (1.17)) wurde hier zur<br />

Vereinfachung weggelassen (siehe dazu auch Seite 52 .).

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