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Photoelektron-Photoion-Koinzidenz- spektroskopie mit ...

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20 Kapitel 1. Das Experiment<br />

Eigenschaften des neuen CMA<br />

Als Grundma e wurden a =40mm, b= 115 mm und 0 = 54.74 gewahlt. Dies bietet im inneren<br />

Zylinder ausreichend Platz fur den nachtraglichen Einbau von Kugelschalen zur Retardierung<br />

(vgl. [40]). Durch numerisches Auflosen von Gleichung (1.1) nach k und Vergleich<br />

<strong>mit</strong> (1.2) ergibt sich eine theoretische Spektrometerkonstante von Cth = 1.2363, wenn auf der<br />

linken Seite der Gleichung der Abstand der Spalt<strong>mit</strong>ten in z-Richtung von 181.6 mm eingesetzt<br />

wird. Die Fokussierungsbedingung 1. Ordnung fuhrt auf ds + di =24mm. Bei einer angenommenen<br />

Quellgro e von 2.5 mm in z-Richtung und Spaltbreiten von 3.6 mm im inneren Zylinder<br />

ergibt sich aus dem Schnittpunkt der Maximalbahnen gerade ds =24mm, so da der Fokus<br />

im Austrittsspalt liegt. Mit der Dispersion D = 298:1 mm, ws z 2 mm, we z =3:6mm und<br />

rc 2 mm ergibt sich eine erwartete Auflosung von Rth =1:06 %. Der Eintrittswinkel der<br />

Elektronen von 54:74 1:71 entspricht einer maximalen Raumwinkelakzeptanz von 1.22 %<br />

bezuglich eines punktformigen Quellvolumens.<br />

Die Spektrometerkonstante C kann experimentell aus der Di erenz der Energielage von Photolinien<br />

in einem <strong>Photoelektron</strong>enspektrum (EDC, siehe S. 31) bestimmt werden. Um den Kalibrierfehler<br />

so klein wie moglich zu halten, bieten sich Photolinien an, die zu Zustanden gro er<br />

Bindungsenergiedi erenz gehoren, wie z. B. die Xe 5p ,1 ( 2 P3=2)- und 4d ,1 ( 2 D3=2)-Photolinien<br />

bei 12.127(1) bzw. 69.54(1) eV [44,45]. Durch die Di erenzbildung wird sowohl die Unsicherheit<br />

in der Photonenenergie (vgl. S. 14) als auch die mogliche Verschiebung der Photolinien<br />

aufgrund eines vorhandenen Kontaktpotentials eliminiert 3 . Der experimentelle Wert der<br />

Spektrometerkonstanten ist<br />

Cexp =1:2385(7): (1.4)<br />

Dies entspricht einem tatsachlichen Abstand der Spalt<strong>mit</strong>ten von 182.2 mm und liegt im Bereich<br />

der erwarteten Fertigungstoleranzen.<br />

Zur Messung der Analysatorfunktion A(EA; ) und da<strong>mit</strong> der Auflosung R des CMA wird<br />

ein Elektronenspektrum einer Augerlinie bekannter naturlicher Linienbreite ,L aufgenommen.<br />

Durch Entfaltung des gemessenen Linienpro ls <strong>mit</strong> dem lorentzformigen Pro l der Augerlinie<br />

kann die Analysatorfunktion bestimmt werden. Die Wahl el auf die Xe N5O23O23( 1 S0)-<br />

Augerlinie <strong>mit</strong> der naturlichen Linienbreite ,L = 0.16 eV und einer Schwerpunktsenergie Auger<br />

von 29.97(1) eV [46{48]. Abbildung 1.9 a.) zeigt ein bei der Photonenenergie h M = 107 eV<br />

gemessenes, im Maximum zu Eins normiertes EDC der Augerlinie. Die Me punkte wurden<br />

durch eine Faltung aus dem Lorentzpro l der Augerlinie und einer gau formig angenommenen<br />

Analysatorfunktion (Voigtpro l) angepa t. Aus dem entfalteten Pro l der Analysatorfunktion<br />

(gestrichelte Linie) ergab sich die experimentelle Auflosung des Analysators<br />

Rexp =,A=EA =1:00(7) %: (1.5)<br />

3 Eine Kontaktspannung bildet sich bei der Untersuchung von Metallproben, wenn der Atomstrahl<br />

die Eintrittsblende des Analysators <strong>mit</strong> einem metallischen Film bedampft. Sie hat eine Retardierung<br />

der eintretenden Elektronen zur Folge, was zu einer Verschiebung des Energiespektrums fuhrt. Je nach<br />

Me dauer und untersuchtem Element wurden Kontaktspannungen zwischen 0 und ,2 V festgestellt.

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