Photoelektron-Photoion-Koinzidenz- spektroskopie mit ...
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4.2. Samarium und Europium 143<br />
6s ,2 -Shake-o sind samtliche ionischen Endzustande unterhalb der (3+)-Schwelle lokalisiert,<br />
und der Untergrund mu daher <strong>mit</strong> (2+)-Ionen korreliert sein. Innerhalb der Kon guration 4f ,2<br />
liegen die ohne Spin-Umklapp in der 4f-Schale erreichbaren Zustande, wie bereits mehrfach<br />
erwahnt, ebenfalls unterhalb der (3+)-Schwelle.<br />
Hinsichtlich der relativen Starke der einzelnen Shake-o -Prozesse kann man sich an den<br />
Wirkungsquerschnitten fur die Einfachphotoionisation der zugehorigen 6s-, 4f-, 5p- und 5s-<br />
Unterschalen orientieren. Im Bereich der 4d-Riesenresonanz dominiert klar der 4f ,1 -Wirkungsquerschnitt<br />
(vgl. Abbildung 4.24 und 4.25 Mitte), gefolgt vom 5p ,1 -Wirkungsquerschnitt,<br />
wahrend die 6s- und 5s-Wirkungsquerschnitte nur eine untergeordnete Rolle spielen. Daraus<br />
kann man schlie en, da von den in (4.17) aufgefuhrten Prozessen diejenigen unter Beteiligung<br />
von 4f- und 5p-Elektronen den gro ten Wirkungsquerschnitt besitzen.<br />
Neben den genannten Moglichkeiten und vielfaltigen weiteren Prozessen, die sich anhand des<br />
Energieniveauschemas konstruieren lassen, konnte fur den <strong>mit</strong> (3+)- und (4+)-Ionen korrelierten<br />
Untergrund auch direkte Dreifachphotoionisation verantwortlich sein. Diese ist allerdings als<br />
Proze hoherer Ordnung ihrer Intensitat nach wesentlich schwacher als DDPI. Im betrachteten<br />
Anregungsenergiebereich sind beispielsweise die Prozesse<br />
Eu + h ! Eu 3+<br />
(<br />
,3 0 0 00 00 000 000 3+ 4+<br />
4f l l l ! Eu (; Eu )<br />
5p ,3 0l0 00l00 000l000 ! Eu 4+ (4.18)<br />
moglich, bei denen drei aquivalente Elektronen im Anregungsschritt e<strong>mit</strong>tiert werden.<br />
Wirkungsquerschnitt fur DDPI<br />
Es soll nun ein quantitativer Ausdruck fur den Wirkungsquerschnitt all jener Anregungsprozesse<br />
hergeleitet werden, die im Elektronenspektrum zu Untergrund fuhren und sich daher <strong>mit</strong><br />
der Methode der <strong>Photoelektron</strong>en<strong>spektroskopie</strong> nicht quantitativ erfassen lassen. Diese direkten<br />
Doppel- und Mehrfachionisationsprozesse werden im folgenden unter dem Begri DDPI<br />
gefuhrt. Als Basis fur die Berechnung dienen wie im Fall Ba (vgl. Abschnitt 4.1.4) die partiellen<br />
Wirkungsquerschnitte von <strong>Photoion</strong>en- (PIS) und <strong>Photoelektron</strong>en<strong>spektroskopie</strong> (PES) (siehe<br />
Abbildung 4.24 und 4.25 oben und Mitte) in Kombination <strong>mit</strong> den Ergebnissen der <strong>Koinzidenz</strong><strong>spektroskopie</strong><br />
(siehe Tabelle 4.3 und 4.4). Im Gegensatz zu Ba (vgl. Abbildung 4.8) kann<br />
im Fall von Sm und Eu ohne Naherungen ein quantitativer Ausdruck berechnet werden.<br />
Als Basis der folgenden Herleitung dienen wie in Abschnitt 4.1.4 (Ba) die Gleichungen (3.18)<br />
und (4.4) sowie Gleichung (3.31) <strong>mit</strong> der De nition der Zerfallsmatrix (vgl. Abschnitt 3.2.4).<br />
In Erweiterung von Gleichung (4.6) werden jetzt alle Prozesse betrachtet, die zu den Ladungsendzustanden<br />
2+, 3+oder 4+ fuhren. Fur diese gilt gema (3.31):<br />
4X<br />
n=2<br />
(h ; n+) = X<br />
4X<br />
(nl) -1<br />
p((nl)<br />
n=2<br />
,1 ! n+) (nl) -1(h )+ X<br />
DDPI n=2<br />
4X<br />
p(a !n+) a (h ): (4.19)