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Photoelektron-Photoion-Koinzidenz- spektroskopie mit ...

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3.2. Verknupfung von Elektronen- und Ionen<strong>spektroskopie</strong> 99<br />

geringfugiger Anstieg ergibt. Dies wurde einer erhohten Wahrscheinlichkeit fur DDA entsprechen.<br />

Es ware sicher hochinteressant, diese mogliche Tendenz evtl. <strong>mit</strong> einem modi zierten<br />

CMA oder besser: <strong>mit</strong> einem Elektronen-TOF genauer zu untersuchen. An dieser Stelle mu<br />

die Aussage genugen, da die Verzweigungsverhaltnisse fern der Schwelle von der Photonenenergie<br />

unabhangig sind. Tabelle 3.1 stellt die Me ergebnisse noch einmal denen aus Ref. [10]<br />

gegenuber:<br />

Tabelle 3.1: Zerfallswahrscheinlichkeiten der 4d ,1 -Lochzustande in Xe fur die verschiedenen<br />

ionischen Ladungsendzustande.<br />

Anfangs- Ladungsendzustand Ladungsendzustand<br />

zustand 1+ 2+ 3+ 1+ 2+ 3+<br />

4d ,1<br />

3=2 < 0.003(3) 0.781(11) 0.219(11) < 0.01(1) 0.783(15) 0.217(15)<br />

4d ,1<br />

5=2 < 0.003(3) 0.839(9) 0.161(9) < 0.01(1) 0.825(15) 0.175(15)<br />

diese Messungen (Mittelwert) aus Ref. [10] (Mittelwert)<br />

Das 4d ,1 ( 2 D3=2)-Niveau ist starker gebunden als das 4d ,1 ( 2 D5=2)-Niveau (siehe Energieniveauschema),<br />

weshalb beim Zerfall moglicherweise zusatzliche Endzustande der Lochkon guration<br />

5p ,3 erreicht werden konnen. Dies konnte der Grund fur die erhohte Zerfallswahrscheinlichkeit<br />

uber DDA nach 3+ sein. Becker et al. [92] haben auf der Basis getrennter Daten aus<br />

<strong>Photoion</strong>en- und <strong>Photoelektron</strong>en<strong>spektroskopie</strong> eine uber beide 4d ,1 -Lochzustande ge<strong>mit</strong>tel-<br />

te Zerfallswahrscheinlichkeit nach 3+ von 0.215 errechnet, die etwas hoher als der Mittelwert<br />

0.186 der hier direkt gemessenen Werte ist (<strong>mit</strong> einer 4d ,1<br />

5=2 : 4d,1<br />

3=2 branching-ratio von 1.3 : 1<br />

gewichtet [96]).<br />

Fluoreszenzzerfall der 4d ,1 -Niveaus nach 5p ,1 konnte im Rahmen des Me fehlers nicht nachgewiesen<br />

werden. Die in der Tabelle angegebenen, oberen Schranken fur den (1+)-Endzustand<br />

wurden bei zwei Dauermessungen von je 10000 s bei h = 125 eV und <strong>Koinzidenz</strong>raten von<br />

70 wahren <strong>Koinzidenz</strong>en/s er<strong>mit</strong>telt, wodurch etwa die Grenzen der gegenwartigen Apparatur<br />

aufgezeigt sind. Berechnungen von McGuire [97] sagen eine Zerfallswahrscheinlichkeit uber<br />

Fluoreszenz von ca. 6 10 ,5 voraus, die noch um einen Faktor 50 unterhalb der gemessenen,<br />

oberen Schranke liegt. Dennoch ist die <strong>Photoelektron</strong>-<strong>Photoion</strong>-<strong>Koinzidenz</strong><strong>spektroskopie</strong> eine<br />

geeignete Methode, um { gegebenenfalls an anderen atomaren Systemen { einmal direkt das<br />

Verhaltnis von Augerrate zu Fluoreszenzrate zu messen.<br />

3.2.4 Die Zerfallsmatrix<br />

Die direkte Verknupfung von <strong>Photoelektron</strong>en- und <strong>Photoion</strong>en<strong>spektroskopie</strong> durch die <strong>Photoelektron</strong>-<strong>Photoion</strong>-<strong>Koinzidenz</strong><strong>spektroskopie</strong><br />

kann unter Verwendung der bei (3.26) de nierten<br />

Verzweigungsverhaltnisse auch anders als in Abschnitt 3.2.2 formuliert werden: Tabelle 3.1, die<br />

Ergebnisse der durchgefuhrten <strong>Koinzidenz</strong>messungen fur die 4d-Photolinien von Xe enthalt,

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