Experimentelle¨Ubungen I E8 – Kennlinien Protokoll - Jan-Gerd ...
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1 Matrikel-Nr. 349658<br />
2 Matrikel-Nr. 350069<br />
Experimentelle Übungen I<br />
<strong>E8</strong> <strong>–</strong> <strong>Kennlinien</strong><br />
<strong>Protokoll</strong><br />
<strong>Jan</strong>-<strong>Gerd</strong> Tenberge 1 Tobias Südkamp 2<br />
17. <strong>Jan</strong>uar 2009
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 1<br />
Inhaltsverzeichnis<br />
1 Theorethische Vorbereitung 2<br />
1.1 Leitfähigkeit von Metallen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2<br />
1.2 Halbleiter . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3<br />
1.3 Glimmlampe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4<br />
2 Versuchsdurchführung 6<br />
2.1 <strong>Kennlinien</strong> . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6<br />
2.1.1 Diode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6<br />
2.1.2 Zenerdiode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6<br />
2.1.3 Glühlampe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8<br />
2.1.4 NTC-Widerstand . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9<br />
2.1.5 Glimmlampe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10<br />
2.2 Temperaturabhängiger Widerstand . . . . . . . . . . . . . . . . . 11<br />
3 Auswertung 14<br />
3.1 <strong>Kennlinien</strong> . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14<br />
3.2 Temperaturabhängiger Widerstand . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 2<br />
1 Theorethische Vorbereitung<br />
In diesem Versuch geht es darum, die <strong>Kennlinien</strong>, also den Zusammenhang zwischen<br />
angelegter Spannung und dem fließenden Strom, verschiedener Bauelemente<br />
zu ermitteln. Im Falle eines herkömmlichen Widerstandes entspricht diese, sofern<br />
seine Temperatur konstant gehalten wird, dem ohmschen Gesetz. Hier werden<br />
stattdessen Bauelemente wie z.B. eine Glimmlampe oder verschiedene Dioden<br />
verwendet.<br />
Zudem wird das Verhalten ohmscher Widerstände bei Temperaturänderung untersucht.<br />
Es sind also <strong>Kennlinien</strong> zu erwarten, die nicht demohmschen Gesetz<br />
entsprechen.<br />
1.1 Leitfähigkeit von Metallen<br />
Für Metalldrähte hängt der Widerstand zum Einen vom Material und zum Anderen<br />
von der Drahtgeometrie ab:<br />
R = ρ l<br />
A<br />
mit spezifischen elektrischem Widerstand ρ und Länge l sowie Querschnittsfläche<br />
A. Die elektrische Leitfähigkeit gründet sich auf der beweglichkeit der Elektronen<br />
innerhalb des Metallgitters. Wenn nun die Rumpfionen nicht ruhen sondern um<br />
ihre Ruhelage schwingen, treten Wechselwirkungen zwischen den Elektronen und<br />
dem Gitter auf. Somit wird der Widerstand eines Metalls temperaturabhängig.<br />
Man geht bei kleinen ∆T (Metalle: i.A. 0 ◦ C bis 100 ◦ C) von einem linearen Zusammenhang<br />
aus:<br />
ρ0 entspricht dem spezifischen Widerstand bei T0.<br />
(1)<br />
ρ = ρ0(1 + α(T − T0)) (2)<br />
α = 1∆ρ<br />
ρ0∆<br />
bezeichnet man als mittleren Temperaturkoeffzienten des spezifischen Widerstandes.<br />
Meßbar ist immer der Widerstand R = ρ l<br />
. Generell sind l und A natürlich<br />
A<br />
auch temperaturabhängig bei Metallen kann dies jedoch vernachlässigt werden.<br />
Somit ergibt sich<br />
α = 1<br />
R0<br />
∆R<br />
∆T<br />
(3)<br />
(4)
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 3<br />
1.2 Halbleiter<br />
Dotiert man ein Halbleitermaterial wie z.B. Siliziumkarbid auf der einen Seite<br />
mit einem Element der dritten und auf der anderen mit einem der fünften Hauptgruppe,<br />
so entsteht ein Halbleiter, d.h. ein Material, dass je nach Stromrichtung<br />
leitend ist, oder nicht. Den Bereich mit Elementen aus der fünften Hauptgruppe<br />
bezeichnet man auch als n-leitende Schicht oder einfach n-Schicht. Den anderen<br />
Bereich nennt man p-Schicht.<br />
n-Schicht<br />
p-Schicht<br />
n-Schicht<br />
p-Schicht<br />
[l]5cm<br />
Elektronendiffusion im Halbleiter<br />
Sperrspannung im Halbleiter<br />
Da die Elemente der fünften Hauptgruppe aufgrund der Struktur ihrer Atomhülle<br />
ein überschüssiges nur leicht gebundenes Elektron besitzen, während die der dritten<br />
Hauptgruppe eines zu wenig in der äußersten Elektronenschale haben (Elektronenlöcher),<br />
diffundieren im Grenzbereich zwischen p- und n-Schicht des Halbleiters<br />
Elektronen von der n- in die p-Schicht (s. Abb. 1). Durch den Wechsel der<br />
Elektronen in die p-Schicht, lädt sich diese negativ auf, während die n-Schicht<br />
positiv geladen wird. Dadurch entsteht zwischen den beiden Bereichen eine Spannung.<br />
Hat diese Spannung einen gewissen Wert erreicht, so spricht man von der<br />
Sperrspannung (s. Abb. 2) diese verhindert weitere Elektronenübergänge und<br />
stoppt somit die Diffusion. Legt man nun den positiver Pol einer Spannungsquelle<br />
an den n-Leiter und den negativen Pol an den p-Leiter, so werden alle übrigen<br />
Elektronen aus der n-Schicht, die noch nicht in den p-Leiter diffundiert sind entfernt<br />
sowie alle verbleibenden Elektronen löcher in der p-Schicht gefüllt und die<br />
Sperrschicht vergrößert sich. Der Widerstand des Halbleiters steigt, sodass kein<br />
Strom fließt (Sperrrichtung).<br />
Polt man die Spannung um, so rücken in der n-Schicht Elektronen nach, die<br />
die diffundierten Elektronen ersetzten, während gleichzeitig die durch Diffusion<br />
besetzten Elektronenlöcher in der p-Schicht wieder frei werden. Die Sperrspannung<br />
sinkt und bleibt, solange die äußere Spannung besteht niedrig, sodass nun<br />
durchgehend Elektronen diffundieren können und ein Strom fließt. Diese Polung<br />
bezeichnet man deshalb als Durchlassrichtung.<br />
In Sperrrichtung kann es bei genügend hoher Spannung dazu kommen, das die<br />
Sperrschicht ihre Wirkung verliert und, wenn auch nur kurzzeitig, ein Strom fließt:<br />
USperr<br />
+<br />
-
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 4<br />
1. Lawinen-/Avalanchedurchbruch: Bei sehr hoher Spannung können die Atome<br />
des Halbleitermaterials durch Stoßionisation ionisiert werden, sodass<br />
kurzzeitig ein sehr hoher Stromanstieg zu vermerken ist. Meist geht dies<br />
mit der Zerstörung der Diode einher.<br />
2. Zehnerdurchbruch: Bei sehr hoch dotierten Halbleitern kann die Potentialbarriere<br />
zwischen p-leitendem Valenzband und n-leitendem Leitungsband<br />
bei sehr hohen Sperrspannungen so gering werden, dass über den relativistischen<br />
Tunneleffekt Valenzelektronen ohne Energieverlust in das n-<br />
Leitungsband gelangen. Den so entstehenden Strom nennt man auch Durchbruchstrom.<br />
1.3 Glimmlampe<br />
Die Funktionsweise einer Glimmlampe basiert auf dem Prinzip der Gasentladung.<br />
Bringt man eine positiv und eine negative Elektrode (technische Stromrichtung!)<br />
in ein geeignetes Gas, z.B. Neon-Gas, so werden bei einer bestimmten angelegten<br />
Spannung Elektronen durch auf die Kathode treffende Ionen ausgelöst und<br />
in Richtung Anode beschleunigt. Anfangs haben diese Elektronen noch nicht<br />
genügend Energie, um Gasatome zum leuchten anzuregen (Astonscher Dunkelraum;<br />
Abb. 3).<br />
Durch die Beschleunigung Richtung Anode steigt deren Energie, bis die Elektronen<br />
schließlich in der Lage sind, Elektronen des Gases anzuregen. Dadurch<br />
werden diese nach dem Bohrschen Atommodell auf höhere Bahnen gehoben. Da<br />
diese Bahn aber einem ungünstigen Energieniveau entspricht, sinken diese schon<br />
bald wieder ab und emittieren die überschüssige Energie als Licht, welches in<br />
dem als Glimmhaut bezeichneten Raum dann auch zu beobachten ist. Diese Anregung<br />
ist allerdings nur zwischen diskreten Energiniveaus möglich, sodass die<br />
Elektronen mit weiter steigender Energie ihre Anregungsfähigkeit einbüßen und<br />
stattdessen die Gasteilchen ionisieren (Hittorfscher Dunkelraum). Durch die steigende<br />
Anzahl an Ionisierten Gasatomen und sich aufgrund ihrer geringen Masse<br />
schnell fortbewegenden Elektronen in diesem Bereich eine positive Raumladung<br />
zurück, sodass ein Großteil der angelegten Spannung hier abfällt (Kathodenfall).<br />
Den Hittorfschen Dunkelraum bezeichnet man deshalb auch als Fallraum.<br />
Durch die geringe verbleibende Spannung werden die Elektronen im anschließenden<br />
Bereich nur noch wenig beschleunigt und geben ihre Energie durch Stöße<br />
ab, was sich als negatives Glimmlicht bemerkbar macht. Im anschließenden Faradayschen<br />
Dunkelraum haben die Elektronen nicht mehr genügend Energie, um<br />
weitere Atome anzuregen. In der darauf folgenden positiven Säule erhalten die<br />
Elektronen durch das durch die anliegende Spannung erzeugte Elektrische Feld<br />
eine konstante Energie, mit der dann über Stoßionisation weitere Gasatome ioni-
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 5<br />
siert werden, sodass nun etwa gleich viele Elektronen und Ionen vorhanden sind.<br />
Im anschließenden Bereich sind wieder ein Potentialanstieg (Anodenfall) und ein<br />
Glimmlicht sowie ein Dunkelraum zu beobachten.<br />
Um das Gas zu Beginn der Gasentladung zu ionisieren benötigt man eine<br />
relativ hohe Zündspannung. Diese ist vom Abstand der Elektroden abhängig. Ist<br />
das Gas erst einmal ionisiert, braucht man nur noch die wesentlich niedrigere<br />
Löschspannung um den Prozess aufrecht zu erhalten, da nun lediglich Elektronen<br />
von der Kathode zur Anode beschleunigt werden müssen.<br />
Abbildung 1: Funktionsweise einer Glimmlampe
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 6<br />
2 Versuchsdurchführung<br />
2.1 <strong>Kennlinien</strong><br />
2.1.1 Diode<br />
Abbildung 2: Schaltungsaufbau zur <strong>Kennlinien</strong>bestimmung<br />
U[V ] Fehler [V ] I[mA] [mA]<br />
0,003 0,01 0,0 0,1<br />
0,180 0,01 0,0 0,1<br />
0,432 0,01 0,0 0,1<br />
0,595 0,01 2,7 0,1<br />
0,614 0,01 4,4 0,1<br />
0,622 0,01 5,4 0,1<br />
0,670 0,01 18,5 0,1<br />
0,688 0,01 30,1 0,1<br />
0,693 0,01 35,0 0,1<br />
0,700 0,01 41,3 0,1<br />
0,712 0,01 57,0 0,1<br />
Tabelle 1: Messwerte bei eingebauter Diode in Durchlassrichtung<br />
2.1.2 Zenerdiode<br />
Sperrrichtung:
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 7<br />
U[V ] Fehler [V ] I[mA] [mA]<br />
0,003 0,01 0,0 0,1<br />
3,137 0,01 0,0 0,1<br />
3,903 0,01 0,6 0,1<br />
4,230 0,01 1,7 0,1<br />
4,422 0,01 2,9 0,1<br />
4,529 0,01 4,0 0,1<br />
4,626 0,01 6,0 0,1<br />
4,818 0,01 10,3 0,1<br />
4,923 0,01 15,1 0,1<br />
4,981 0,01 19,1 0,1<br />
5,028 0,01 23,4 0,1<br />
5,062 0,01 27,3 0,1<br />
5,080 0,01 29,7 0,1<br />
Tabelle 2: Messwerte bei eingebauter ZenerDiode in Sperrrichtung<br />
Durchlassrichtung:<br />
U[V ] Fehler [V ] I[mA] [mA]<br />
0,000 0,01 0,0 0,1<br />
0,400 0,01 0,0 0,1<br />
0,548 0,01 0,1 0,1<br />
0,606 0,01 0,8 0,1<br />
0,623 0,01 1,4 0,1<br />
0,634 0,01 2,1 0,1<br />
0,648 0,01 3,8 0,1<br />
0,660 0,01 5,3 0,1<br />
0,666 0,01 6,8 0,1<br />
0,677 0,01 10,0 0,1<br />
0,985 0,01 13,5 0,1<br />
0,695 0,01 19,8 0,1<br />
0,705 0,01 29,1 0,1<br />
0,710 0,01 36,3 0,1<br />
0,711 0,01 37,5 0,1<br />
Tabelle 3: Messwerte bei eingebauter ZenerDiode in Durchlassrichtung
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 8<br />
2.1.3 Glühlampe<br />
U[V ] Fehler [V ] I[mA] [mA]<br />
0,003 0,01 0,1 0,1<br />
0,024 0,01 0,8 0,1<br />
0,031 0,01 1,1 0,1<br />
0,205 0,01 5,7 0,1<br />
0,405 0,01 8,5 0,1<br />
0,724 0,01 11,3 0,1<br />
1,288 0,01 15,3 0,1<br />
1,897 0,01 19,0 0,1<br />
2,746 0,01 23,5 0,1<br />
3,664 0,01 27,7 0,1<br />
4,297 0,01 30,3 0,1<br />
4,927 0,01 32,8 0,1<br />
5,671 0,01 35,6 0,1<br />
7,700 0,01 42,7 0,1<br />
11,420 0,01 53,9 0,1<br />
12,51 0,01 56,9 0,1<br />
12,55 0,01 57,0 0,1<br />
Tabelle 4: Messwerte bei eingebauter Glühlampe
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 9<br />
2.1.4 NTC-Widerstand<br />
U[V ] Fehler [V ] I[mA] [mA]<br />
0,420 0,01 0,550 0,0<br />
1,316 0,01 1,750 0,2<br />
2,411 0,01 3,290 0,2<br />
3,604 0,01 5,160 0,2<br />
4,899 0,01 7,630 0,2<br />
6,21 0,01 11,400 0,2<br />
6,50 0,01 12,230 0,0<br />
6,70 0,01 13,300 0,2<br />
6,86 0,01 14,000 0,2<br />
7,13 0,01 15,300 0,2<br />
7,34 0,01 16,600 0,2<br />
7,51 0,01 18,000 0,2<br />
7,61 0,01 19,000 0,2<br />
7,69 0,01 19,900 0,2<br />
7,77 0,01 20,800 0,2<br />
8,03 0,01 25,400 0,2<br />
7,80 0,01 56,600 0,2<br />
Tabelle 5: Messwerte bei eingebautem NTC-Widerstand
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 10<br />
2.1.5 Glimmlampe<br />
U[V ] Fehler [V ] I[mA] [mA]<br />
0,0 0,1 0,0<br />
10,0 0,1 0,0<br />
20,0 0,1 0,0<br />
. . . 0,1 0,0<br />
100,0 0,1 0,0<br />
110,0 0,1 0,0<br />
113,0 0,1 0,0<br />
Die Glimmlampe zündet<br />
85,4 0,1 7,3 0,1<br />
86,2 0,1 10,4 0,1<br />
87,3 0,1 14,8 0,1<br />
87,6 0,1 15,7 0,1<br />
Maximale Spannung erreicht<br />
85,7 0,1 8,3 0,1<br />
84,6 0,1 4,5 0,1<br />
84,0 0,1 1,5 0,1<br />
83,9 0,1 0,9 0,1<br />
Die Glimmlampe erlischt<br />
85,2 0,1 0,0 0,1<br />
Tabelle 6: Messwerte bei eingebauter Glimmlampe
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 11<br />
2.2 Temperaturabhängiger Widerstand<br />
Abbildung 3: Wheatstonsche Brückenschaltung
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 12<br />
T [ ◦ C] Fehler [ ◦ C] l[cm] Fehler [cm]<br />
22,0 0,1 37,3 0,1<br />
23,0 0,1 37,4 0,1<br />
25,0 0,1 37,7 0,1<br />
27,8 0,1 38,1 0,1<br />
31,1 0,1 38,6 0,1<br />
36,8 0,1 39,2 0,1<br />
40,0 0,1 39,7 0,1<br />
44,4 0,1 40,1 0,1<br />
47,3 0,1 40,3 0,1<br />
50,9 0,1 40,5 0,1<br />
55,4 0,1 41,0 0,1<br />
62,0 0,1 41,5 0,1<br />
66,6 0,1 41,9 0,1<br />
73,1 0,1 42,5 0,1<br />
80,0 0,1 42,9 0,1<br />
85,0 0,1 43,1 0,1<br />
88,0 0,1 43,3 0,1<br />
90,9 0,1 43,6 0,1<br />
Tabelle 7: Messwerte des Widerstandes beim Erwärmen
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 13<br />
T [ ◦ C] Fehler [ ◦ C] l[cm] Fehler [cm]<br />
90,00 0,1 43,0 0,1<br />
68,70 0,1 41,1 0,1<br />
63,60 0,1 40,4 0,1<br />
44,00 0,1 39,8 0,1<br />
40,00 0,1 39,3 0,1<br />
33,90 0,1 39,0 0,1<br />
30,30 0,1 38,8 0,1<br />
28,40 0,1 38,7 0,1<br />
25,50 0,1 37,8 0,1<br />
18,20 0,1 37,3 0,1<br />
14,60 0,1 37,1 0,1<br />
12,50 0,1 37,0 0,1<br />
11,00 0,1 36,9 0,1<br />
8,60 0,1 36,7 0,1<br />
7,20 0,1 36,5 0,1<br />
6,60 0,1 36,5 0,1<br />
5,60 0,1 36,4 0,1<br />
Tabelle 8: Messwerte des Widerstandes beim Abkühlen
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 14<br />
3 Auswertung<br />
3.1 <strong>Kennlinien</strong><br />
Diode<br />
I [m A ]<br />
6 0<br />
5 0<br />
4 0<br />
3 0<br />
2 0<br />
1 0<br />
0<br />
M e s s w e rte<br />
E x p o n e n tie lle r F it<br />
0 ,0 0 ,1 0 ,2 0 ,3 0 ,4 0 ,5 0 ,6 0 ,7<br />
U [V ]<br />
Abbildung 4: Kennlinie der Diode
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 15<br />
Zenerdiode<br />
I [m A ]<br />
3 0<br />
2 5<br />
2 0<br />
1 5<br />
1 0<br />
5<br />
0<br />
M e s s w e rte<br />
E x p o n e n tie lle r F it<br />
0 1 2 3 4 5<br />
U [V ]<br />
Abbildung 5: Kennlinie der Zenerdiode in Sperrrichtung<br />
I [m A ]<br />
3 5<br />
3 0<br />
2 5<br />
2 0<br />
1 5<br />
1 0<br />
5<br />
0<br />
M e s s w e rte<br />
E x p o n e n tie lle r F it<br />
-5<br />
0 ,0 0 ,1 0 ,2 0 ,3 0 ,4 0 ,5 0 ,6 0 ,7<br />
U [V ]<br />
Abbildung 6: Kennlinie der Zenerdiode in Durchlassrichtung
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 16<br />
Glühlampe<br />
Mit R = U<br />
I<br />
I [m A ]<br />
6 0<br />
5 0<br />
4 0<br />
3 0<br />
2 0<br />
1 0<br />
0<br />
-1 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 0 1 1 1 2<br />
U [V ]<br />
Abbildung 7: Kennlinie der Glühlampe<br />
lässt sich der Widerstand berechnen:
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 17<br />
U[V ] Fehler [V ] I[mA] Fehler [mA] R[mΩ] Fehler [mΩ]<br />
0,003 0,01 0,1 0,1 30,00 104,40<br />
0,024 0,01 0,8 0,1 30,00 13,05<br />
0,031 0,01 1,1 0,1 28,18 9,45<br />
0,205 0,01 5,7 0,1 35,96 1,86<br />
0,405 0,01 8,5 0,1 47,65 1,30<br />
0,724 0,01 11,3 0,1 64,07 1,05<br />
1,288 0,01 15,3 0,1 84,18 0,85<br />
1,897 0,01 19,0 0,1 99,84 0,74<br />
2,746 0,01 23,5 0,1 116,85 0,65<br />
3,664 0,01 27,7 0,1 132,27 0,60<br />
4,297 0,01 30,3 0,1 141,82 0,57<br />
4,927 0,01 32,8 0,1 150,21 0,55<br />
5,671 0,01 35,6 0,1 159,30 0,53<br />
7,700 0,01 42,7 0,1 180,33 0,48<br />
11,420 0,01 53,9 0,1 211,87 0,43<br />
12,51 0,01 56,9 0,1 219,86 0,42<br />
12,55 0,01 57,0 0,1 220,18 0,42<br />
R [m Ω]<br />
2 4 0<br />
2 2 0<br />
2 0 0<br />
1 8 0<br />
1 6 0<br />
1 4 0<br />
1 2 0<br />
1 0 0<br />
8 0<br />
6 0<br />
4 0<br />
2 0<br />
0<br />
Tabelle 9: Widerstand der Glühlampe<br />
U /I<br />
G ra p h is c h e A n p a s s u n g<br />
0 2 4 6 8 1 0 1 2 1 4<br />
U [V ]<br />
Abbildung 8: Widerstand der Glühlampe gegen die angelegte Spannung aufgetragen
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 18<br />
NTC-Widerstand<br />
I [m A ]<br />
Glimmlampe<br />
I [m A ]<br />
6 0<br />
5 0<br />
4 0<br />
3 0<br />
2 0<br />
1 0<br />
0<br />
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9<br />
U [V ]<br />
Abbildung 9: Kennlinie des NTC-Widerstandes<br />
1 6<br />
1 5<br />
1 4<br />
1 3<br />
1 2<br />
1 1<br />
1 0<br />
9<br />
8<br />
7<br />
6<br />
5<br />
4<br />
3<br />
2<br />
1<br />
0<br />
8 4 8 5 8 6 8 7 8 8<br />
U [V ]<br />
Abbildung 10: Kennlinie der hellen Glimmlampe(Schwarz: kurz nach dem<br />
Zünden; Rot: fallende Spannung bis zur Löschspannung
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 19<br />
3.2 Temperaturabhängiger Widerstand<br />
R berechnen:<br />
T [ ◦ C] Fehler [ ◦ C] l[cm] Fehler [cm] Rx[Ω] Fehler [Ω]<br />
22,0 0,1 37,3 0,1 2,974 0,008<br />
23,0 0,1 37,4 0,1 2,987 0,008<br />
25,0 0,1 37,7 0,1 3,026 0,008<br />
27,8 0,1 38,1 0,1 3,078 0,008<br />
31,1 0,1 38,6 0,1 3,143 0,008<br />
36,8 0,1 39,2 0,1 3,224 0,008<br />
40,0 0,1 39,7 0,1 3,292 0,008<br />
44,4 0,1 40,1 0,1 3,347 0,010<br />
47,3 0,1 40,3 0,1 3,375 0,008<br />
50,9 0,1 40,5 0,1 3,403 0,008<br />
55,4 0,1 41,0 0,1 3,475 0,009<br />
62,0 0,1 41,5 0,1 3,547 0,009<br />
66,6 0,1 41,9 0,1 3,606 0,009<br />
73,1 0,1 42,5 0,1 3,696 0,009<br />
80,0 0,1 42,9 0,1 3,757 0,009<br />
85,0 0,1 43,1 0,1 3,787 0,009<br />
88,0 0,1 43,3 0,1 3,818 0,009<br />
90,9 0,1 43,6 0,1 3,865 0,009<br />
Tabelle 10: Widerstand des Drahtes beim Erwärmen
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 20<br />
T [ ◦ C] Fehler [ ◦ C] l[cm] Fehler [cm] Rx[Ω] Fehler [Ω]<br />
90,00 0,1 43,0 0,1 3,772 0,011<br />
68,70 0,1 41,1 0,1 3,489 0,009<br />
63,60 0,1 40,4 0,1 3,389 0,008<br />
44,00 0,1 39,8 0,1 3,306 0,008<br />
40,00 0,1 39,3 0,1 3,237 0,008<br />
33,90 0,1 39,0 0,1 3,197 0,008<br />
30,30 0,1 38,8 0,1 3,170 0,008<br />
28,40 0,1 38,7 0,1 3,157 0,008<br />
25,50 0,1 37,8 0,1 3,039 0,008<br />
18,20 0,1 37,3 0,1 2,974 0,008<br />
14,60 0,1 37,1 0,1 2,949 0,008<br />
12,50 0,1 37,0 0,1 2,937 0,008<br />
11,00 0,1 36,9 0,1 2,924 0,008<br />
8,60 0,1 36,7 0,1 2,899 0,008<br />
7,20 0,1 36,5 0,1 2,874 0,008<br />
6,60 0,1 36,5 0,1 2,874 0,008<br />
5,60 0,1 36,4 0,1 2,862 0,008<br />
R [Ω]<br />
Tabelle 11: Widerstand des Drahtes beim Abkühlen<br />
3 ,7 5<br />
3 ,5 0<br />
3 ,2 5<br />
3 ,0 0<br />
2 ,7 5<br />
2 ,5 0<br />
<br />
<br />
0 2 0 4 0 6 0 8 0<br />
<br />
Abbildung 11: Widerstand des Drahtes gegen dessen Temperatur aufgetragen;<br />
Erwärmungsprozess
Experimentelle Übungen I <strong>E8</strong> Tenberge, Südkamp 21<br />
R [Ω]<br />
3 ,7 5<br />
3 ,5 0<br />
3 ,2 5<br />
3 ,0 0<br />
2 ,7 5<br />
2 ,5 0<br />
<br />
<br />
0 2 0 4 0 6 0 8 0<br />
<br />
Abbildung 12: Widerstand des Drahtes gegen dessen Temperatur aufgetragen;<br />
Abkühlen