Es erkennt hier eine sprudelnde Quelle. Wir auch. - ULV Leoben ...
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Charakterisierung von Nanostrukturen<br />
Rasterkraftmikroskopie ermöglicht neben der Abbildung <strong>auch</strong> <strong>eine</strong> Charakterisierung<br />
der magnetischen und elektrischen Eigenschaften von Dünnschichten<br />
auf der Nanometerskala.<br />
Die Verwendung magnetisierter Spitzen ermöglicht<br />
die Charakterisierung magnetischer Oberflächen<br />
auf der Nanometerskala (Magnetkraftmikroskopie<br />
MFM). Dies liefert wichtige Daten für die Entwicklung<br />
magnetischer Materialien (Bild oben: MFM-<br />
Messprinzip; magnetische Domänen auf <strong>eine</strong>r<br />
nanostrukturierten Co/GaSb Oberfläche).<br />
Markus Kratzer<br />
Institut für Physik<br />
an der MUL seit: 3/2009<br />
Email: markus.kratzer@unileoben.ac.at<br />
www.unileoben.ac.at/~spmgroup<br />
Zur Person:<br />
1998-2005: Studium Technische Physik(TU Graz)<br />
2005-2009: Doktorat Technische Physik(TU Graz)<br />
seit 2009: UA MUL SPM-Group bei Prof. C. Teichert<br />
Die elektrischen Eigenschaften von Oberflächen<br />
können mittels Leitfähigkeits- Rasterkraftmikroskopie<br />
(C-AFM) charakterisiert<br />
werden. Von besonderem Interesse sind<br />
dabei Nanostäbe (NS), welche Potenzial für<br />
die Anwendung in Sensorik, Energie- oder<br />
Schaltungstechnik haben. Bild unten: ZnO<br />
NS. Die Insets zeigen <strong>eine</strong> I/U Kennlinie,<br />
welche für <strong>eine</strong>n Punkt der Stirnfläche <strong>eine</strong>s<br />
einzelnen NS gemessen wurde.<br />
Forschungspartner:<br />
Forschungsschwerpunkte:<br />
Rastersondenmikroskopische Untersuchung von<br />
Halbleiterschichten, Nanomagneten und Nanostäben<br />
Wachstum von Halbleiterstrukturen mittels<br />
Molekularstrahlepitaxie im UHV und Hot-Wall-Epitaxie im HV
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