Es erkennt hier eine sprudelnde Quelle. Wir auch. - ULV Leoben ...

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Forschungspartner:
Elektrische Charakterisierung auf der
Nanometerskala
Mittels Leitfähigkeitsrasterkraft- und Kelvinsondenmikroskopie werden die elektrischen
Eigenschaften von nanostrukturierten Materialien untersucht.
Die Kelvinsonden-Kraftmikroskopie (KPFM) ermöglicht
die Bestimmung der Austrittsarbeit mit hoher
lateraler Auflösung, was von großer Wichtigkeit für
die Charakterisierung von Halbleiteroberflächen ist
(Bild oben).
Igor Beinik
Institut für Physik
Scanning Probe Microscopy Group
an der MUL seit: 1/2008
Email: igor.beinik@unileoben.ac.at
www.unileoben.ac.at/~spmgroup
Ko-Autor: Prof. C. Teichert
Zur Person:
2000-2005: Studium der Physik (Universität Kiew)
derzeit: Dissertant am Institut für Physik bei Prof. C. Teichert im
Rahmen eines FWF-Projektes
Mittels Leitfähigkeits-Rastersondenmikroskopie
(C-AFM) können elektrische Transporteigenschaften
auf der Nanometerskala charakterisiert werden.
An die AFM Spitze, die sich in Kontakt mit
der Probe befindet, wird eine Gleichspannung
angelegt. Der daraus resultierende Strom durch
die Probe wird gemessen. Im Bild links ist das
Messprinzip zur Aufnahme von Strom-Spannungs-
Kennlinien dargestellt. Im Bild unten sind Topographie
und Strombild von InGaAs Nanodrähten
dargestellt.
Forschungspartner:
Forschungsschwerpunkte:
Charakterisierung von InGaAs/GaAs Nanodrähten und
Nanostäben.
Charakterisierung von piezoelektrischen Materialien und
Triboschichten.
Fotoleitfähigkeit auf der Nanometerskala.