Es erkennt hier eine sprudelnde Quelle. Wir auch. - ULV Leoben ...

Zur Person:
Dr.rer.nat. Universität Halle; Postdoc: FZ Jülich,
University of Wisconsin Madison, MPI Halle;
Univ.Ass. MUL, Habilitation (Materialphysik) 2001,
Gaedepreis 2002
Rasterkraftmikroskopie an
Oberflächennanostrukturen
Das Rasterkraftmikroskop (AFM) erlaubt sowohl die präzise Abtastung und physikalische
Charakterisierung von Nanostrukturen auf Festkörperoberflächen als
auch deren gezielte Herstellung.
Wie bei einem nostalgischen Plattenspieler tastet das AFM mit einer an einem Biegebalken befindlichen
Spitze die Oberfläche ab. Die Verbiegung des Balkens wird mit einem Laserstrahl detektiert. Die Messung
kann sowohl an Luft, im Magnetfeld, in Flüssigkeiten oder im Ultrahochvakuum bzw. im Hochvakuum erfolgen,
wo auch die Nanostrukturen mittels Epitaxie erzeugt werden.
Links: Dreidimensionale AFM-Aufnahme eines terrassierten Hügels einer organischen Halbleiterschicht
(Nanoerzberg); Mitte: Nanomagnetanordnung auf selbstorganisierten Halbleitersubstraten, gemessen mit
dem Magnetkraftmikroskop; Rechts: Mittels AFM nanostrukturiertes Symbol der MUL.
Christian Teichert
Institut für Physik
Scanning Probe Microscopy Group
an der MUL seit: 1998
Email: christian.teichert@unileoben.ac.at
www.unileoben.ac.at/~spmgroup
Forschungspartner:
JKU Linz, TU Graz, KFU Graz, FH Kärnten, UA Madrid, Uni
Twente, Enschede; Uni Stuttgart, NASU Kiev, CINAM Marseille,
Uni Hongkong, FZ Rossendorf, EPCOS, MONDI, Lenzing AG
Forschungsschwerpunkte:
Selbstorganisation von Halbleiternanostrukturen;
Nanomagnetismus, Charakterisierung dielektrischer Schichten
in der Mikroelektronik;
Oberflächenrauigkeit auf der Nanometerskala: Von „hard coatings“
bis zu Papierfasern;
Korrelation Benetzbarkeit und Oberflächenrauigkeit
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