Es erkennt hier eine sprudelnde Quelle. Wir auch. - ULV Leoben ...
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Reibungskraftmikroskopie<br />
Untersuchung von organischen Oberflächenschichten mittels Reibungskraftmikroskopie<br />
(FFM) und Kontaktwinkelmessungen.<br />
Bei der Reibungskraftmikroskopie wird <strong>eine</strong> f<strong>eine</strong><br />
Spitze an <strong>eine</strong>m Biegebalken über <strong>eine</strong> Oberfläche<br />
gezogen und zwar senkrecht zu s<strong>eine</strong>r langen<br />
Achse. Durch die Reibung der Spitze an der Oberfläche<br />
wird der Biegebalken verdrillt, welches mit<br />
<strong>eine</strong>m Laser detektiert wird.<br />
Quan Shen<br />
Institut für Physik<br />
Scannung Probe Microscopy Group<br />
an der MUL seit: 10/2002<br />
Email: quan.shen@unileoben.ac.at<br />
www.unileoben.ac.at/~spmgroup<br />
Zur Person:<br />
1999-2002: Studium der Werkstoffwissenschaft in Shanghai<br />
2003-2009: Studium der Werkstoffwissenschaft in <strong>Leoben</strong><br />
seit 6/2009: Doktorand bei Prof. Teichert im Rahmen <strong>eine</strong>s<br />
FWF-Projekts<br />
Mittels Rasterkraftmikroskopie wird ein Reibungskontrast<br />
zwischen modifizierten und unmodifizierten<br />
Oberflächenabschnitten <strong>eine</strong>r 2-fach belichteten Probe<br />
erzielt (A und B oben). Kontaktwinkelmessungen<br />
werden verwendet, um die chemische Änderung der<br />
Oberfläche zu untersuchen (C und D unten).<br />
Forschungspartner:<br />
Lehrstuhl für Synthese von Spezial- und Funktionspolymeren<br />
(MUL)<br />
Forschungsschwerpunkte:<br />
Untersuchung von organischer Dünnschichten mittels FFM<br />
und Kontaktwinkelmessungen sowie Kelvin Probe Kraft<br />
Mikroskopie und Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie.
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