EM Test ITP/H Magnetic Field Immunity Test Probe Set - emitec ...

emitec ag, birkenstrasse 47, 6343 rotkreuz
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EM Test ITP/H Magnetic Field Immunity Test Probe Set
Feldsonden zum Anschluss an Burstgeneratoren (inkl. Hochspannungskabel, Bedienungsanleitung und Koffer)
Sonde 1: Für Untersuchungen an Gehäusen und größeren Oberflächenbereichen von Baugruppen
Sonde 2: Lokalisierung von punktförmigen Schwachstellen auf Leiterplatten und Bauteilen
Sonde 3: gezieltes Einkoppeln von sehr kleinen Feldern in einzelne Leiterbahnen und Bauelemente
Sonde 4: E-Feldsonde
Design BS 02 Anwendung BS 02
Beschreibung BS 02
Die Magnetfeldquelle erzeugt ein B-Feldbündel von > 5 cm Durchmesser. Sie ist für Geräte- und
Baugruppenuntersuchungen gleichermaßen geeignet. Entsprechend der Sondengröße lassen sich
großflächig Gehäuseoberflächen und Innenbereiche, Verbindungstechnik und Baugruppen mit
Leiterzugstrukturen und IC beaufschlagen und magnetisch sensible Schwachstellen erkennen.
Design BS 04 DB Anwendung BS 04 DB
Beschreibung BS 04 DB
Die Feldquelle generiert ein B-Feldbündel im Millimeterbereich (> 3 mm). Mit dem an der Stirnseite
der Sonde austretenden Feldstrahl wird die Oberfläche von Leiterkarten abgetastet. Dies gestattet
das Auflösen von magnetischen Schwachstellen im Layout und Bestückungsbereich. Kritische
Leiterzugabschnitte, Bauteile und Bauteilanschlüsse sind lokalisierbar.
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Design BS 05 DB Anwendung BS 05 DB
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Beschreibung BS 05 DB
Die Magnetfeldquelle erzeugt einen sehr feinen aus der Sondenspitze austretenden B-Feldstrahl
(> 1mm) und ist damit für die Lokalisierung punktförmiger Schwachstellen geeignet. Mit dem
Feldstrahl wird die Oberfläche von Leiterkarten und Bauteilen abgetastet. Der kleine Durchmesser
und die scharfe Bündelung des Strahls ermöglicht eine hohe Auflösung. Vor Anwendung der
Feldquelle BS 05 DB ist die Schwachstelle grob mit der Sonde BS 02 oder BS 04 DB einzugrenzen.
Design ES 05 D Anwendung ES 05 D
Beschreibung ES 05 D
Die E-Feldquelle besitzt einen schmalen linienförmigen Sondenkopf von dem aus sich das E-Feld
zur Gegenelektrode am Schaft schließt. Damit ist sie für die Schwachstellensuche im Leiterzug- und
Bauteilbereich von Baugruppen hervorragend geeignet: E-Feld-Einkopplungen auf einzelne
Leiterzüge, Drähte, Pins und Bauteile, insbesondere auf einzelne SMD-Bauelemente wie
Widerstände und Kondensatoren sind gezielt möglich. Die Feldquelle wird mit dem Sondenkopf
direkt aufgesetzt.
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