EM Test ITP/H Magnetic Field Immunity Test Probe Set - emitec ...
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<strong>emitec</strong> ag, birkenstrasse 47, 6343 rotkreuz<br />
tel 041 748 60 10, fax 041 748 60 11<br />
info@<strong>emitec</strong>.ch, www.<strong>emitec</strong>.ch<br />
<strong>EM</strong> <strong>Test</strong> <strong>ITP</strong>/H <strong>Magnetic</strong> <strong>Field</strong> <strong>Immunity</strong> <strong>Test</strong> <strong>Probe</strong> <strong>Set</strong><br />
Feldsonden zum Anschluss an Burstgeneratoren (inkl. Hochspannungskabel, Bedienungsanleitung und Koffer)<br />
Sonde 1: Für Untersuchungen an Gehäusen und größeren Oberflächenbereichen von Baugruppen<br />
Sonde 2: Lokalisierung von punktförmigen Schwachstellen auf Leiterplatten und Bauteilen<br />
Sonde 3: gezieltes Einkoppeln von sehr kleinen Feldern in einzelne Leiterbahnen und Bauelemente<br />
Sonde 4: E-Feldsonde<br />
Design BS 02 Anwendung BS 02<br />
Beschreibung BS 02<br />
Die Magnetfeldquelle erzeugt ein B-Feldbündel von > 5 cm Durchmesser. Sie ist für Geräte- und<br />
Baugruppenuntersuchungen gleichermaßen geeignet. Entsprechend der Sondengröße lassen sich<br />
großflächig Gehäuseoberflächen und Innenbereiche, Verbindungstechnik und Baugruppen mit<br />
Leiterzugstrukturen und IC beaufschlagen und magnetisch sensible Schwachstellen erkennen.<br />
Design BS 04 DB Anwendung BS 04 DB<br />
Beschreibung BS 04 DB<br />
Die Feldquelle generiert ein B-Feldbündel im Millimeterbereich (> 3 mm). Mit dem an der Stirnseite<br />
der Sonde austretenden Feldstrahl wird die Oberfläche von Leiterkarten abgetastet. Dies gestattet<br />
das Auflösen von magnetischen Schwachstellen im Layout und Bestückungsbereich. Kritische<br />
Leiterzugabschnitte, Bauteile und Bauteilanschlüsse sind lokalisierbar.<br />
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Design BS 05 DB Anwendung BS 05 DB<br />
<strong>emitec</strong> ag, birkenstrasse 47, 6343 rotkreuz<br />
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Beschreibung BS 05 DB<br />
Die Magnetfeldquelle erzeugt einen sehr feinen aus der Sondenspitze austretenden B-Feldstrahl<br />
(> 1mm) und ist damit für die Lokalisierung punktförmiger Schwachstellen geeignet. Mit dem<br />
Feldstrahl wird die Oberfläche von Leiterkarten und Bauteilen abgetastet. Der kleine Durchmesser<br />
und die scharfe Bündelung des Strahls ermöglicht eine hohe Auflösung. Vor Anwendung der<br />
Feldquelle BS 05 DB ist die Schwachstelle grob mit der Sonde BS 02 oder BS 04 DB einzugrenzen.<br />
Design ES 05 D Anwendung ES 05 D<br />
Beschreibung ES 05 D<br />
Die E-Feldquelle besitzt einen schmalen linienförmigen Sondenkopf von dem aus sich das E-Feld<br />
zur Gegenelektrode am Schaft schließt. Damit ist sie für die Schwachstellensuche im Leiterzug- und<br />
Bauteilbereich von Baugruppen hervorragend geeignet: E-Feld-Einkopplungen auf einzelne<br />
Leiterzüge, Drähte, Pins und Bauteile, insbesondere auf einzelne SMD-Bauelemente wie<br />
Widerstände und Kondensatoren sind gezielt möglich. Die Feldquelle wird mit dem Sondenkopf<br />
direkt aufgesetzt.<br />
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