TR 03126-4 - Bundesamt für Sicherheit in der Informationstechnik ...
TR 03126-4 - Bundesamt für Sicherheit in der Informationstechnik ...
TR 03126-4 - Bundesamt für Sicherheit in der Informationstechnik ...
Erfolgreiche ePaper selbst erstellen
Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.
7 Anwendungsfälle<br />
<strong>TR</strong> <strong>03126</strong>-4: E<strong>in</strong>satzgebiet „Handelslogistik“<br />
7.1 Anwendungsfall „Herstellung und Versand <strong>der</strong> Chips“<br />
Der Anwendungsfall „Herstellung und Versand <strong>der</strong> Chips“ beschreibt den Handlungsablauf<br />
<strong>der</strong> Konfigurierung des Chips und <strong>der</strong> Übermittlung <strong>der</strong> Chipprodukte und <strong>der</strong> objektbezogenen<br />
Daten zum Transpon<strong>der</strong>hersteller.<br />
Für die spätere <strong>Sicherheit</strong>sbetrachtung s<strong>in</strong>d die folgenden Prozessschritten, von beson<strong>der</strong>er<br />
Bedeutung:<br />
1 Erstellung , Vergabe, Programmierung und permanente Sperrung e<strong>in</strong>er e<strong>in</strong>zigartigen ID<br />
(TID, UID) auf den Chip.<br />
2 Übermittlung <strong>der</strong> <strong>für</strong> die Assemblierung relevanten Waferdaten (Wafermap) an den<br />
Transpon<strong>der</strong>hersteller.<br />
Use Case „Herstellung und Versand des Chips“<br />
Kriterium:<br />
Kriterien<br />
Testprogramm<br />
erfolgreich<br />
durchlaufen?<br />
Prozessablauf<br />
Herstellung des Wafers<br />
Generieren <strong>der</strong> UID<br />
Elektrisches Testen <strong>der</strong> Chips<br />
Test des Chips erfolgreich?<br />
JA<br />
?<br />
UID <strong>in</strong> Chip e<strong>in</strong>br<strong>in</strong>gen<br />
Option: Schlüsseldaten bereitstellen<br />
Option: Schlüsseldaten e<strong>in</strong>br<strong>in</strong>gen<br />
Übermittlung <strong>der</strong> Chip<strong>in</strong>formationen an<br />
Transpon<strong>der</strong>hersteller:<br />
UID <strong>der</strong> funktionsfähigen Chips<br />
Schlüsseldaten (Option)<br />
Liste <strong>der</strong> fehlerhaften Chips<br />
Ablieferung <strong>der</strong> Chips<br />
ENDE<br />
Chip<br />
NEIN Defekter Chip markiert,<br />
Ende des Prozesses<br />
Chip <strong>in</strong>itialisiert<br />
Chipspezifische UID<br />
gespeichert<br />
Schlüssel gesetzt<br />
H<strong>in</strong>tergrundsysteme<br />
des Herstellers<br />
Archivierung<br />
Wafer- und<br />
Batchnummer<br />
Nummerkreis des<br />
Herstellers<br />
Testprogramm<br />
Archivierung des<br />
Testergebnisses<br />
pro Chip<br />
Schlüsselmanagement<br />
Generische<br />
Schlüssel<br />
Abbildung 7–1 Anwendungsfall „Herstellung und Versand des Chips“<br />
Inlet-Hersteller<br />
UID, Liste<br />
Fehlteile,<br />
Chargennummern<br />
, etc<br />
Kundenspezifische<br />
Schlüssel (Option)<br />
Chipprodukte<br />
<strong>Bundesamt</strong> <strong>für</strong> <strong>Sicherheit</strong> <strong>in</strong> <strong>der</strong> <strong>Informationstechnik</strong> 63
![[ST] System z10 EC LPAR Security Target V7.7.2 20081023 PU-205](https://img.yumpu.com/16227170/1/184x260/st-system-z10-ec-lpar-security-target-v772-20081023-pu-205.jpg?quality=85)
Change language