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Einfluss statischer und quasistatischer Magnetfelder auf ...

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4 Diskussion der Ergebnisse<br />

Aus der Abbildung kann man entnehmen, dass die Interferenzstreifen aus der Aufnahme<br />

des magnetisierten Laserplasmas eine stärkere Krümmung im Bereich des<br />

erzeugten Plasmas <strong>auf</strong>weisen, als die Streifen des unmagnetisierten Plasmas. Dies<br />

lässt dar<strong>auf</strong> schließen, dass der Gradient der Elektronendichte in dem magnetisierten<br />

Plasma deutlich größer als in dem unmagnetisierten Plasma ist. Dieser größere Gradient<br />

lässt <strong>auf</strong> einen messbaren <strong>Einfluss</strong> des Magnetfeldes <strong>auf</strong> die Elektronendichten<br />

dieser laserinduzierten Plasmen schließen.<br />

Das magnetisierte Plasma zeigt bis zu einer Entfernung von der Targetoberfläche<br />

von ∆l = 2,5 mm einen deutlich erkennbaren Gradienten in der Elektronendichte,<br />

das unmagnetisierte lediglich bis zu einer Entfernung von ∆l = 1,8 mm. Dieser Unterschied<br />

<strong>und</strong> der höhere Gradient zeigen, dass die Elektronendichte in dem Plasma,<br />

das eine Abbremsung durch ein transversales Magnetfeld erfährt, wesentlich höher<br />

als in einem freiexpandierenden Plasma ist.<br />

Mit statischen <strong>Magnetfelder</strong>n ist man somit in der Lage über die Elektronendichte<br />

viele Plasmaparameter zu beeinflussen. Die gesamte Plasmadynamik eines expandierenden<br />

lasererzeugten Plasmas wird durch diesen <strong>Einfluss</strong> verändert. Bei genauer<br />

Kenntnis der Zusammenhänge, die eine Beeinflussung der Elektronendichten in magnetisierten<br />

Plasmen verursachen, kann die Expansion eines lasererzeugten Plasmas<br />

letztendlich kontrolliert werden.<br />

4.3 Fehlerquellen<br />

Die Bilder der Interferometrie des alternativen Diagnostiklasers sind nur sehr kontrastarm<br />

<strong>und</strong> enthalten auch Beugungsringe einiger optischer Komponenten des<br />

Strahlengangs. Wegen dieser Beugungsringe <strong>und</strong> der Unschärfe der Interferenzstreifen<br />

erleidet die Orst<strong>auf</strong>lösung der Aufnahmen einen Fehler.<br />

Eine weitere Fehlerquelle liegt in der zeitlichen Schwankung (Jitter) der Laserentladung.<br />

So kann ein großer Jitter Unterschiede in den Gradienten der Elektronendichte<br />

vortäuschen, da sie neben einem Ortsgradienten auch einen hohen zeitlichen<br />

Gradienten besitzen [Sch02]. Da diese Jitter bei dem vorliegenden Experiment<strong>auf</strong>bau<br />

jedoch nur im Bereich von 1 ns liegen, kann man diese Fehlerquelle vernachlässigen.<br />

Thermisches Rauschen, das Schwankungen der Signale <strong>auf</strong> einem CCD-Chip vortäuschen<br />

kann, ist ebenfalls eine Fehlerquelle, die den Fehler einer Messung vor allem<br />

bei kleinen Intensitäten vergrößern kann. Um thermisches Rauschen zu vermeiden,<br />

werden die CCD-Chips im vorliegenden Experiment<strong>auf</strong>bau gekühlt. Eine Folge des<br />

thermischen Rauschens ist ein Fehler in der Auswertung der Rohdaten. So kann z. B.<br />

der Wert für das FWHM nicht exakt bestimmt werden, auch wenn nur ein leichtes<br />

Rauschen vorhanden ist. Allerdings ist der Fehler um so kleiner, je schwächer das<br />

Rauschen ist.<br />

Die Photokathoden der Aufnahmegeräte können in Folge von Überbelichtungen<br />

<strong>und</strong> Alterungsprozessen defekte Bereiche besitzen, die lediglich eine in der Intensität<br />

abgeschwächte oder gar keine Abbildung zulassen. Dadurch können Gradienten in<br />

der Intensität der Aufnahme entstehen, die in einer Messung mit einer voll funk-<br />

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